Taajuusmuuttajien testauksen kehittäminen

Thumbnail Image

URL

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Helsinki University of Technology | Master's thesis
Checking the digitized thesis and permission for publishing
Instructions for the author
Location:
P1 Ark S80

Authors

Date

2005

Department

Sähkö- ja tietoliikennetekniikan osasto

Major/Subject

Tehoelektroniikka

Mcode

S-81

Degree programme

Language

fi

Pages

61 s. + liitt. 7

Series

Abstract

Työssä tutkitaan taajuusmuuttajien tuotekehitystestauksen kehittämistä sekä testausprosessia että testausmenetelmiä parantamalla. Työssä esitellään testauksen yleisiä motiiveja sekä tapoja luokitella erilaisia testaustyylejä. Lisäksi työssä käydään läpi tietyt taajuusmuuttajatestauksen perustestityypit. Prosessikehitystyön pohjaksi tutkitaan erään taajuusmuuttajavalmistajan tuotekehitystestausta nk. TPI-menetelmällä, millä saatuja tuloksia varmennetaan haastatteluin. TPI on luotu ohjelmistotestauksen kehitysvälineeksi, mutta se on sovellettavissa myös muuntyyppisen testauksen arviointiin. TPI-menetelmä osoittautui hyväksi tavaksi tutkia testauksen tasoa, mutta se johdattelee melko raskaaseen testausprosessiin. TPI:n ja haastattelujen tuloksien perusteella testaustoiminnasta löydettiin heikkouksia mm. testien suunnittelussa, testien määrittelyssä, raportoinnissa sekä kommunikoinnissa testauksen eri toimijoiden välillä. Näiden asioiden kehittämiseksi luotiin uusi prosessimalli, jossa kiinnitetään erityistä huomiota tiedon kulkuun, dokumentointiin ja tulosten arviointiin. Kehittyneistä testausmenetelmistä kiinnostavimmaksi osoittautuivat kiihdytetyn testauksen menetelmät HALT ja MEOST, jotka esitellään lyhyesti. Kirjallisuuden perusteella näillä menetelmillä on mahdollista lyhentää testausaikaa merkittävästi. Tässä työssä ei kuitenkaan ollut mahdollista todentaa näitä väitteitä.

Description

Supervisor

Kyyrä, Jorma

Thesis advisor

Pohjalainen, Pasi

Keywords

frequency converter, taajuusmuuttaja, testing improvement, testauksen kehittäminen, testing process, TPI, testausprosessi

Other note

Citation

Permanent link to this item

https://urn.fi/URN:NBN:fi:aalto-2020120452070

Collections

[dipl] Teknillinen korkeakoulu / TKK