Magneettivuon tiheyden mittausmenetelmän kehittäminen kolmen teslan magneettikuvauslaitteeseen

Thumbnail Image

URL

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Helsinki University of Technology | Master's thesis
Checking the digitized thesis and permission for publishing
Instructions for the author
Location:
P1 Ark TF80

Authors

Date

2004

Department

Teknillisen fysiikan ja matematiikan osasto

Major/Subject

Lääketieteellinen tekniikka

Mcode

Tfy-99

Degree programme

Language

fi

Pages

75

Series

Abstract

Toiminnallisessa magneettikuvauksessa tyypillisesti käytettävä Echo Planar Imaging -tekniikka (EPI) tuottaa vääristyneitä kuvia, jos magneettivuon tiheys kuvauskohteessa on epähomogeeninen. Epähomogeenisuutta aiheuttavat esimerkiksi kohteen suskeptiivisuuserot, minkä vuoksi toiminnalliset magneettikuvat ovat usein ainakin jonkin verran vääristyneitä. Vääristymät voimistuvat magneettikuvauslaitteen kentänvoimakkuuden kasvaessa. Tässä työssä käsitellään tekniikkaa, jolla magneettivuon tiheys kuvauskohteessa voidaan mitata, ja käyttää saatua kenttäkarttaa toiminnallisen kuvien korjaamiseen jälkikäteen. Kaksi erilaista magneettivuon tiheyden mittaamiseen soveltuvaa kuvaussekvenssiä, epäsymmetrinen spinkaikusekvenssi ja gradienttikaikusekvenssi, toteutettiin kolmen teslan magneettikuvauslaitteelle, ja kokeiltiin niiden tuottamien kenttäkarttojen soveltuvuutta kuvien korjaukseen. Tulosten perusteella kuvien korjaus magneettivuon tiheyden mittaustuloksia apuna käyttäen muuttaa kuvien muotoa selvästi oikeaan suuntaan ja on hyödyllinen työkalu toiminnallisen aivokuvauksen tulosten parantamiseksi. Menetelmä ei ole kuitenkaan niin tarkka, että kaikki yksittäisten kuvapisteiden arvot olisivat luotettavia. Täydellistä korjausta ei ole mahdollista saavuttaakaan, koska kaikki kentän epähomogeenisuudet eivät toistu samanlaisena kuvaustilanteesta toiseen.

Description

Supervisor

Katila, Toivo

Keywords

MRI, toiminnallinen magneettikuvaus, fMRI, magneettikuvaus, fMRI, MRI

Other note

Citation

Permanent link to this item

https://urn.fi/URN:NBN:fi:aalto-2020120450402

Collections

[dipl] Teknillinen korkeakoulu / TKK