EMC-mittapaikkojen välisten korrelaatiokertoimien määrittely

School of Electrical Engineering | Master's thesis

Checking the digitized thesis and permission for publishing
Instructions for the author

Authors

Dahlgren, Jonas

Date

Department

Elektroniikan laitos

Major/Subject

Sovellettu elektroniikka

Mcode

S-66

Language

fi

Pages

vii + 61 s. + liitt. 13

Supervisor

Eskelinen, Pekka

Thesis advisor

Nyman, Janne
Nyberg, Tomi

Keywords

comb-spectrum, CISPR, correlation factor, EMC, monopole, EUT, measurement uncertainty, FAR, reference radiator, kampaspektri, spectrum analyzer, korrelaatiokerroin, LabVIEW, mittausepävarmuus, monopoli, referenssisäteilijä, SAR, spektrianalysaattori

Permanent link to this item

https://urn.fi/URN:NBN:fi:aalto-2020122858937

Collections

[dipl] Sähkötekniikan korkeakoulu / ELEC

Show all metadata