Fourier-muunnosinfrapunaspektrometrin ilmaisimen ominaisuuksien mittausmenetelmä sekä sen soveltaminen

Simple item page
dc.contributorAalto-yliopistofi
dc.contributorAalto Universityen
dc.contributor.advisorStenman, Folke 
dc.contributor.authorLehtomäki, Esko 
dc.contributor.schoolSähkötekniikan korkeakoulufi
dc.contributor.supervisorIkonen, Erkki 
dc.date.accessioned2014-01-09T13:11:52Z
dc.date.available2014-01-09T13:11:52Z
dc.date.issued2013-09-23 
dc.format.extent43+8 
dc.identifier.urihttps://aaltodoc.aalto.fi/handle/123456789/11993
dc.identifier.urnURN:NBN:fi:aalto-201401101069
dc.language.isofien
dc.programmeEST - Elektroniikka ja sähkötekniikkafi
dc.programme.majorElektroniikka ja sovelluksetfi
dc.programme.mcodeS3007fi
dc.rights.accesslevelclosedAccess
dc.subject.keywordFTIRfi
dc.subject.keywordinfrapunaspektroskopiafi
dc.subject.keywordspektrikorjattu ilmaisinfi
dc.subject.keywordMCT-ilmaisinfi
dc.titleFourier-muunnosinfrapunaspektrometrin ilmaisimen ominaisuuksien mittausmenetelmä sekä sen soveltaminenfi
dc.titleMeasuring System for Properties of Detectors in Fourier Transform Infrared Spectrometeren
dc.typeG2 Pro gradu, diplomityöen
dc.type.okmG2 Pro gradu, diplomityö
dc.type.ontasotMaster's thesisen
dc.type.ontasotDiplomityöfi
dc.type.publicationmasterThesis
local.aalto.digifolderAalto_69018
local.aalto.idinssi48406
local.aalto.openaccessno

Files

Collections

[dipl] Sähkötekniikan korkeakoulu / ELEC