Pesemättömien aaltojuotosjuoksutteiden käyttö elektroniikkateollisuudessa
No Thumbnail Available
URL
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Helsinki University of Technology |
Diplomityö
Checking the digitized thesis and permission for publishing
Instructions for the author
Instructions for the author
Authors
Date
1999
Department
Major/Subject
Elektroniikan valmistustekniikka
Mcode
S-113
Degree programme
Language
fi
Pages
vi + 72
Series
Abstract
Tutkimustyön tarkoituksena oli tutkia pesemättömän juoksutteen käyttöä aaltojuotosprosessissa. Piirilevyjen juottamisen jälkeisestä vesipesusta luopuminen merkitsisi muun muassa puhtaan veden ja energian säästöä, jätevesikuormituksen loppumista sekä prosessin läpimenoaikojen lyhenemistä. Työn tavoitteena oli yhden tai useamman Elcoteq Network Oyj:n Helsingin tehtaan prosessiin soveltuvan juoksutteen löytäminen sekä käytettyjen testausmenetelmien arviointi. Diplomityön kirjallisessa osuudessa tarkastellaan aaltojuotosprosessia, joka koostuu kolmesta päävaiheesta: juoksutteen levitysvaiheesta, esilämmitysvaiheesta ja varsinaisesta juotosvaiheesta. Juoksutteiden levitysmenetelmiä, etenkin vaahto- ja sprayfluksausta, tarkastellaan yksityiskohtaisesti. Teoriaosassa selvitetään lisäksi juoksutteiden käytön tarkoitus ja niiden koostumus sekä kerrotaan juoksutteiden luokitteluun liittyvistä perusteista. Juotoksen laatuvaatimukset ja juottamisessa ilmenevät ongelmat käydään myös läpi. Kirjallisen osuuden lopussa esitellään perusteet ja standardit niistä testeistä, joita juoksutteiden vertailemiseksi diplomityön kokeellisessa osuudessa käytettiin. Diplomityön kokeellisessa osuudessa oli vertailtavana kaiken kaikkiaan 5 juoksutetta, joista neljä oli alkoholipohjaisia ja yksi vesipohjainen. Juoksutteita testattiin juoksutetestejä varten suunnitellulla testilevyllä. Testattavilla juoksutteilla juotettiin muutamia testilevyjä vertailevaa kosteustestiä varten. Kosteustestin tarkoituksena oli selvittää mm. juoksutejäänteiden aktiivisuus piirilevyn pinnalla. Kosteustestissä (IEC-standardi 68-2-30) piirilevyt sijoitettiin biasoituina kuumaan (25 - 55°C) ja kosteaan (RH 93 %) ympäristöön, jonka aikana mitattiin testilevyjen pintaresistanssia. Testilevyjen puhtautta arvioitiin ionograafipuhtausmittauslaitteella, joka mittaa liuoksen johtavuuden avulla levyn puhtauden. Pieni johtavuus viittaa vähäiseen ionien yhteismäärään kortin pinnalla. Lisäksi juoksutteiden ominaisuuksia vertailtiin visuaalisella tarkastelulla ja optisella mikroskopialla.Description
Supervisor
Kivilahti, JormaThesis advisor
Pere, JuhaKeywords
wave soldering, foam fluxing, spray fluxing, no-clean fluxes, surface insulation resistance, ionograph, aaltojuotosprosessi, vaahtofluksaus, sprayfluksaus, pesemättömät juoksutteet, pintaresistanssi, ionograafi