Testipiiri molybdeenihila-CMOS -teknologian karakterisointiin

Simple item page
dc.contributorAalto-yliopistofi
dc.contributorAalto Universityen
dc.contributor.advisorSalo, Timo 
dc.contributor.authorJussila, Jyrki
dc.contributor.departmentSähkötekniikan osastofi
dc.contributor.schoolTeknillinen korkeakoulufi
dc.contributor.schoolHelsinki University of Technologyen
dc.contributor.supervisorSinkkonen, Juha 
dc.date.accessioned2020-12-03T13:35:13Z
dc.date.available2020-12-03T13:35:13Z
dc.date.issued1990 
dc.format.extent54 
dc.identifier.urihttps://aaltodoc.aalto.fi/handle/123456789/79381
dc.identifier.urnURN:NBN:fi:aalto-2020120338219
dc.language.isofien
dc.programme.majorElektronifysiikkafi
dc.programme.mcodeEle-69fi
dc.rights.accesslevelclosedAccess
dc.subject.keywordtestipiirifi
dc.subject.keywordtestirakennefi
dc.subject.keywordprosessin seurantafi
dc.subject.keywordmallitusfi
dc.subject.keywordkarakterisointifi
dc.subject.keywordluotettavuusfi
dc.titleTestipiiri molybdeenihila-CMOS -teknologian karakterisointiinfi
dc.type.okmG2 Pro gradu, diplomityö 
dc.type.ontasotMaster's thesisen
dc.type.ontasotPro gradu -tutkielmafi
dc.type.publicationmasterThesis 
local.aalto.digiauthask
local.aalto.digifolderAalto_35277
local.aalto.idinssi5837
local.aalto.openaccessno

Files

Collections

[dipl] Teknillinen korkeakoulu / TKK