Elektronimikroskoopin toiminnan analysointi ratalaskujen avulla
dc.contributor | Aalto-yliopisto | fi |
dc.contributor | Aalto University | en |
dc.contributor.author | Laaksonen, Reima Tapani | |
dc.contributor.department | Teknillisen fysiikan osasto | fi |
dc.contributor.school | Teknillinen korkeakoulu | fi |
dc.contributor.school | Helsinki University of Technology | en |
dc.contributor.supervisor | Byckling, Eero | |
dc.date.accessioned | 2020-12-02T13:48:00Z | |
dc.date.available | 2020-12-02T13:48:00Z | |
dc.date.issued | 1982 | |
dc.format.extent | 61 s. + liitt. 9 | |
dc.identifier.uri | https://aaltodoc.aalto.fi/handle/123456789/73245 | |
dc.identifier.urn | URN:NBN:fi:aalto-2020120232084 | |
dc.language.iso | fi | en |
dc.programme.major | Materiaalifysiikka | fi |
dc.programme.mcode | 02.44 | fi |
dc.rights.accesslevel | closedAccess | |
dc.title | Elektronimikroskoopin toiminnan analysointi ratalaskujen avulla | fi |
dc.type.okm | G2 Pro gradu, diplomityö | |
dc.type.ontasot | Master's thesis | en |
dc.type.ontasot | Pro gradu -tutkielma | fi |
dc.type.publication | masterThesis | |
local.aalto.digiauth | ask | |
local.aalto.digifolder | Aalto_42461 | |
local.aalto.idinssi | 73 | |
local.aalto.openaccess | no |