Determination of lead concentration in thin films by X-ray fluorescence

Simple item page
dc.contributorAalto-yliopistofi
dc.contributorAalto Universityen
dc.contributor.authorLehto, Sari
dc.contributor.departmentProsessi- ja materiaalitekniikan osastofi
dc.contributor.schoolTeknillinen korkeakoulufi
dc.contributor.schoolHelsinki University of Technologyen
dc.contributor.supervisorNiinistö, Lauri 
dc.date.accessioned2020-12-03T15:53:51Z
dc.date.available2020-12-03T15:53:51Z
dc.date.issued1992 
dc.format.extentviii + 90 
dc.identifier.urihttps://aaltodoc.aalto.fi/handle/123456789/80835
dc.identifier.urnURN:NBN:fi:aalto-2020120339673
dc.language.isofien
dc.programme.majorEpäorgaaninen kemiafi
dc.programme.mcodeKem-35fi
dc.rights.accesslevelclosedAccess
dc.titleDetermination of lead concentration in thin films by X-ray fluorescenceen
dc.titleLyijypitoisuuden määritys ohutkalvoista röntgenfluoresenssillafi
dc.type.okmG2 Pro gradu, diplomityö 
dc.type.ontasotMaster's thesisen
dc.type.ontasotPro gradu -tutkielmafi
dc.type.publicationmasterThesis 
local.aalto.digiauthask
local.aalto.digifolderAalto_17556
local.aalto.idinssi7466
local.aalto.openaccessno

Files

Collections

[dipl] Teknillinen korkeakoulu / TKK