Kunnonvalvonta ja vianilmaisualgoritmit

No Thumbnail Available
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Helsinki University of Technology | Diplomityö
Checking the digitized thesis and permission for publishing
Instructions for the author
Date
2006
Major/Subject
Informaatiotekniikka
Mcode
T-115
Degree programme
Language
fi
Pages
56
Series
Abstract
Teollisuuden tuotantokoneisto tarvitsee säännöllistä huoltoa. Hyvin huollettu laitteisto pitää tuotteiden laadun hyvänä ja tarjoaa työntekijöille turvallisen työympäristön. Liian harva huoltoväli saattaa johtaa yllättäviin konerikkoihin, jotka voivat aiheuttaa kalliita huoltoja ja pitkiä tuotantokatkoksia. Kunnonvalvonnalla voidaan seurata laitteiston kuntoa ja ennakoida sen rikkoutumista. Ennakointi mahdollistaa laitteiston huollon optimoinnin, joka auttaa nostamaan teollisuusyrityksen kilpailukykyä. Tässä työssä tutkitaan erilaisia kunnonvalvonta-algoritmeja. Erityisinä mielenkiinnon kohteina ovat itsejärjestyvä kartta (SOM) ja monikerros-perseptroniverkko (MLP), jotka ovat oppivia menetelmiä. Muita käytettyjä algoritmeja ovat FFT, aallokemuunnos ja riippumattomien komponenttien analyysi (ICA). Algoritmien toimintaa kokeillaan käytännön olosuhteissa muutamilla eri laitteistoilla, joihin kuuluvat moottori ja kaksi erilaista vaihteistoa. Laitteista mitattuja signaaleja analysoidaan FFT:llä ja aallokemuunnoksella, ja signaaleista yritetään eritellä riippumattomat komponentit. Oppiville algoritmeille opetetaan laitteiden ominaistaajuudet ja kokeillaan miten hyvin ne oppivat tunnistamaan laitteiden toimintatilan niiden perusteella. Oppivat menetelmät osasivat tunnistaa hyvin ne toimintatilat, jotka niille opetettiin. Aitoa vikojen tunnistamista ei voitu kokeilla, sillä testattavat laitteet olivat täysin toimivia koko mittausjakson ajan. Myös signaalin riippumattomien komponenttien erittely toimi melko hyvin vaikkei se ihan täyttänytkään ennakko-odotuksia.
Description
Supervisor
Simula, Olli
Thesis advisor
Suuronen, Matti
Keywords
condition monitoring, kunnonvalvonta, learning methods, oppivat menetelmät, neural network, neuroverkko, SOM, aallokemuunnos, MLP, FFT, wavelets, ICA
Other note
Citation