Digitaalipiirien testivektoreiden automaattinen generointi
Loading...
Access rights
Julkaisu on tekijänoikeussäännösten alainen. Teosta voi lukea ja tulostaa henkilökohtaista käyttöä varten. Käyttö kaupallisiin tarkoituksiin on kielletty.
URL
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Helsinki University of Technology |
Diplomityö
Unless otherwise stated, all rights belong to the author. You may download, display and print this publication for Your own personal use. Commercial use is prohibited.
Authors
Date
1989
Department
Major/Subject
Sovellettu elektroniikka
Mcode
Ele-66
Degree programme
Language
fi
Pages
71
Series
Description
Supervisor
Jääskeläinen, PaavoKeywords
testivektori, scan-rakenne, intelligen, testattavuus, vikasimulointi, kattavuus, algoritmi, logiikka, digitaali