Digitaalipiirien testivektoreiden automaattinen generointi

Loading...
Thumbnail Image

Access rights

Julkaisu on tekijänoikeussäännösten alainen. Teosta voi lukea ja tulostaa henkilökohtaista käyttöä varten. Käyttö kaupallisiin tarkoituksiin on kielletty.

URL

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Helsinki University of Technology | Diplomityö

Date

1989

Major/Subject

Sovellettu elektroniikka

Mcode

Ele-66

Degree programme

Language

fi

Pages

71

Series

Description

Supervisor

Jääskeläinen, Paavo

Keywords

testivektori, scan-rakenne, intelligen, testattavuus, vikasimulointi, kattavuus, algoritmi, logiikka, digitaali

Other note

Citation