Radiation Damage in Double-Sided Silicon Strip Detectors

dc.contributorAalto-yliopistofi
dc.contributorAalto Universityen
dc.contributor.authorSchulman, Tom
dc.contributor.departmentTietotekniikan osastofi
dc.contributor.schoolTeknillinen korkeakoulufi
dc.contributor.schoolHelsinki University of Technologyen
dc.contributor.supervisorByckling, Eero
dc.date.accessioned2020-12-03T14:14:11Z
dc.date.available2020-12-03T14:14:11Z
dc.date.issued1991
dc.format.extent77
dc.identifier.urihttps://aaltodoc.aalto.fi/handle/123456789/80124
dc.identifier.urnURN:NBN:fi:aalto-2020120338962
dc.language.isoenen
dc.programme.majorMateriaalifysiikkafi
dc.programme.mcodeTfy-44fi
dc.rights.accesslevelclosedAccess
dc.titleRadiation Damage in Double-Sided Silicon Strip Detectorsen
dc.titleIonisoivan säteilyn aiheuttamat vauriot kaksipuolisissa piinauhasäteilynilmaisimissafi
dc.type.okmG2 Pro gradu, diplomityö
dc.type.ontasotMaster's thesisen
dc.type.ontasotPro gradu -tutkielmafi
dc.type.publicationmasterThesis
local.aalto.digiauthask
local.aalto.digifolderAalto_43255
local.aalto.idinssi6744
local.aalto.openaccessno

Files