Nopeiden digitaalisten integroitujen piirien luotettavuus

Thumbnail Image

URL

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Helsinki University of Technology | Master's thesis
Checking the digitized thesis and permission for publishing
Instructions for the author
Location:
P1 Ark S80

Authors

Date

1985

Department

Sähkötekniikan osasto

Major/Subject

Elektronifysiikka

Mcode

01.69

Degree programme

Language

fi

Pages

69

Series

Description

Supervisor

Sinkkonen, Juha

Thesis advisor

Soininen, Aarni

Keywords

ECL, elektromigraatio, elinikätesti, integroitujen piirien luotettavuus, vika-analyysi

Other note

Citation

Permanent link to this item

https://urn.fi/URN:NBN:fi:aalto-2020120235105

Collections

[dipl] Teknillinen korkeakoulu / TKK