Improving the board level reliability procedure in new product process

dc.contributorAalto-yliopistofi
dc.contributorAalto Universityen
dc.contributor.advisorRönkä, Kari
dc.contributor.advisorKeskinen-Peltola, Matti
dc.contributor.authorValkiainen, Asta
dc.contributor.departmentMateriaali- ja kalliotekniikan osastofi
dc.contributor.schoolTeknillinen korkeakoulufi
dc.contributor.schoolHelsinki University of Technologyen
dc.contributor.supervisorKivilahti, Jorma
dc.date.accessioned2020-12-04T12:58:14Z
dc.date.available2020-12-04T12:58:14Z
dc.date.issued2000
dc.description.abstractTässä työssä tutkittiin oikeanlaista toimintamallia, jonka avulla voidaan taata uusien tuotteiden piirilevytason luotettavuus. Tämä toteutettiin nystymatriisikomponenttien avulla, joiden liitokset piirilevyyn ovat kotelon alla ja tämän takia mahdolliset luotettavuusriskit ovat suuremmat kuin perinteisillä jalallisilla komponenteilla. Tutkimus suoritettiin telecom/datacom tuotteilla, joiden odotettu käyttöikä on 20-30 vuotta. Tavoitteena oli kirjallisuustutkimuksen avulla kartoittaa uusien komponenttien luotettavuuteen vaikuttavia seikkoja. Chip Scale Package (CSP) komponenttien tavallisimmat rakenteet on esitelty ja vertailtu jalallisiin komponentteihin. Pintaliitostekniikka ja siinä mahdollisesti esiintyvät luotettavuusongelmat on esitelty pääpiirteittäin. Telecom/datacom tuotteiden mahdollisia toimintaolosuhteita on kartoitettu. Tyypillisiä elektroniikan materiaaleja on tutkittu ja juoteliitosten vikamekanismit on esitelty. Sekä mekaanisia-, että lämpösyklitestejä on tutkittu. Tulevaisuudessa luotettavuuden määrittämiseen käytetään yhä enemmän tietokonepohjaisia mallinnusohjelmia, tämän takia Finite Element Method (FEM) on myös esitelty. Kokeellisessa osassa tavoitteena oli luoda toimintamalli, jota noudattamalla uusien komponenttien ja koteloiden, kuten Ball Grid Array (BGA) ja CSP, tutkiminen olisi tehokkaampaa. Tarkoituksena on, että tietämys komponenteista kasvaa eri toimintamallin vaiheissa ja prosessin aikana on mahdollista tehdä päätös komponentin hylkäämisestä tai hyväksymisestä. Toimintamallin eri vaiheet on jaoteltu niiden vievän ajan ja kustannustehokkuuden mukaan, eli esim. kalliit ja pitkäkestoiset lämpötilasyklitestit on asetettu toimintamallin loppuun. Esitelty toimintamalli ja kaikki kerätty data, antavat hyvän pohjan uusien komponenttien piirilevytason luotettavuuden määrittämiseen nopeasti ja systemaattisesti. Tutkittujen komponenttien perusteella on kuitenkin vielä vaikea arvioida onko tällainen toimintamalli käyttökelpoinen kaikissa tapauksissa, tarvitaan vielä lisää tietoa ja kehitystyötä.fi
dc.format.extentvii + 77
dc.identifier.urihttps://aaltodoc.aalto.fi/handle/123456789/87935
dc.identifier.urnURN:NBN:fi:aalto-2020120446770
dc.language.isoenen
dc.programme.majorElektroniikan valmistustekniikkafi
dc.programme.mcodeS-113fi
dc.rights.accesslevelclosedAccess
dc.subject.keywordpiirilevytason luotettavuusfi
dc.subject.keywordBGAfi
dc.subject.keywordCSPfi
dc.subject.keywordjuoteliitosfi
dc.subject.keywordjuottaminenfi
dc.subject.keywordboard level reliabilityfi
dc.subject.keywordsolder jointfi
dc.subject.keywordsolderingfi
dc.titleImproving the board level reliability procedure in new product processen
dc.titleUusien tuoteprosessien systemaattinen juoteliitosten luotettavuuden takaava toimintamallifi
dc.type.okmG2 Pro gradu, diplomityö
dc.type.ontasotMaster's thesisen
dc.type.ontasotPro gradu -tutkielmafi
dc.type.publicationmasterThesis
local.aalto.digiauthask
local.aalto.digifolderAalto_44435
local.aalto.idinssi15409
local.aalto.openaccessno

Files