Development of Atomic Layer Deposition Processes for Nanotechnology Applications

Thumbnail Image

Files

isbn9789526078595.pdf (1.66 MB)

URL

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

School of Electrical Engineering | Doctoral thesis (article-based) | Defence date: 2018-03-23
Unless otherwise stated, all rights belong to the author. You may download, display and print this publication for Your own personal use. Commercial use is prohibited.

Authors

Date

2018

Department

Elektroniikan ja nanotekniikan laitos
Department of Electronics and Nanoengineering

Major/Subject

Mcode

Degree programme

Language

en

Pages

65 + app. 106

Series

Aalto University publication series DOCTORAL DISSERTATIONS, 32/2018

Abstract

This thesis focuses on atomic layer deposition (ALD) and its applications in nanotechnology. Two new low-temperature methods for the passivation of GaAs surfaces are presented and the film properties of the plasma ALD grown AlN are studied. A new deposition process for Yb2O3 thin films is developed and utilization of titanium dioxide films for photocatalytic applications is investigated. The photoluminescence intensity of the near surface quantum wells (NSQWs) was used as an indicator for the passivation efficiency. The NSQW structures were coated by AlN or TiN. The AlN layer was deposited using plasma enhanced ALD whereas the TiN film was deposited using thermal ALD. Both coating methods increased the photoluminescence intensity significantly which indicated that the surface recombination rate of GaAs was clearly reduced. The coating layer thickness had a significant effect on the passivation efficiency. The study of the influence of the process parameters on the PEALD AlN film properties revealed that the TMA and NH3 plasma process led to stable film deposition. The growth temperature had the highest effect on the film impurity level: a higher temperature led to a lower hydrogen level. The NH3 plasma pulse time did not have as significant effect on the atomic concentrations. The hydrogen level had an inverse correlation to the AlN film density and refractive index. The developed growth process for the Yb2O3 films was based on the use of ytterbium β-diketonate (Yb(thd)3) and O3 precursors. The optimal growth temperature range was 300-350 °C, where the deposition rate was 0.18-0.20 Å/ cycle. The Yb/O ratio was 0.59 and 0.63 when the growth temperature was 300 and 350 °C, respectively. The impurity levels of H and C were 1.12, 0.65 at.%, in order. The photodegradation of salisylic acid (SA) by TiO2 was investigated. The TiO2 thickness had a clear impact on the SA decomposition rate. A thin 3 nm thick layer did not cause photocatalytic activity. In the range of 3 to 50 nm the photodegradation rate increased and when the film was thicker than 50 nm the decomposition rate stayed relatively constant. The TiO2 deposition temperature showed a clear effect on the the film crystallinity and photodegradation rate. The fastest SA decomposition was observed when the TiO2 growth temperature was 400 °C.

Tämä väitöskirja keskittyy atomikerroskasvatusmenetelmään ja sen nanoteknologisiin sovelluksiin. Työssä tutkittiin neljää eri sovellutusaluetta, galliumarsenidin pinnan passivointi, alumiininitridikalvon fysikaaliset ominaisuudet, ytterbiumoksidin kasvatus ALD-tekniikalla sekä ALD titaanioksidin käyttö fotokatalyyttisissä sovellutuksissa. Galliumarsenidin passivointikokeissa pintakvanttikaivoja käytettiin passivoinnin onnistumisen indikaattorina. Pintakvanttikaivot pinnoitettiin joko AlN- tai TiN-kerroksella. AlN-kerros valmistettiin plasmatehostetulla ALD-tekniikalla. TiN-kerrokset valmistettiin ilman plasmaa. Molemmat kerrokset paransivat pintakvanttikaivon luminesenssi-intensiteettiä merkittävästi, mistä voidaan päätellä että pintarekombinaation määrä väheni selvästi. Kerrosten paksuudella oli myös merkittävä vaikutus passivointitulokseen. Kun tutkittiin prosessiparametrien vaikutusta alumiininitridin ominaisuuksiin, kävi ilmi että trimetyylialumiinilla ja ammoniakkiplasmalla valmistettu kalvo oli stabiili. Reaktorin lämpötilalla oli suurin vaikutus kalvon atomaarisiin epäpuhtauksiin. Lämpötilan kasvattaminen pienensi vedyn määrää kalvossa. Ammoniakkiplasman pulssiajalla ei ollut merkittävää vaikutusta atomipitoisuuksiin. Vetypitoisuus korreloi käänteisesti AlN-kalvon tiheyden ja taitekertoimen kanssa. Väitöskirjassa kehitettiin uusi ytterbiumoksidin ALD-valmistusprosessi. Prosessin lähtöaineet olivat ytterbium β-diketonaatti ja otsoni. Prosessin lämpötilaikkuna oli välillä 300-350 °C, jossa kasvunopeus oli 1.18 -0.20 Å/sykli. Ytterbiumin ja hapen atomaariset suhdeluvut (Yb/O) olivat 0.59 ja 0.63 kun reaktorilämpötilat olivat vastaavasti 300 ja 350 °C. Kalvoista löytyi 1.12 % vetyä ja 0.65 % hiiltä. Titaanioksidin fotokatalyyttisiä ominaisuuksia tutkittiin salisyylihapon (SA) avulla. TiO2-kalvon paksuus vaikutti merkittävästi SA:n hajoamisnopeuteen. Erittäin ohut 3 nm kerros ei tuottanut fotokatalyyttistä vaikutusta. Kerrospaksuuksien välillä 3 - 50 nm salisyylihapon hajoaminen nopeutui kalvon paksuuden kasvaessa. Kun kalvo oli paksumpi kuin 50 nm, hajomisnopeus pysyi vakiona. Reaktorilämpötilalla TiO2-prosessin valmistuksen aikana oli myös voimakas vaikutus hajoamisnopeuteen. Suurin hajoamisnopeus saatiin, kun kalvo oli valmistettu 400 °C reaktorilämpötilassa.

Description

Supervising professor

Lipsanen, Harri, Prof., Aalto University, Department of Electronics and Nanoengineering , Finland

Thesis advisor

Huhtio, Teppo, Dr., Aalto University, Finland

Keywords

atomic layer deposition, plasma enhanced atomic layer deposition, GaAs passivation, photocatalyst, AlN, TiN, TiO2, atomikerroskasvatus, plasmatehostettu atomikerroskasvatus, GaAs passivointi, fotokatalyysi

Other note

Parts

  • [Publication 1]: M. Bosund, T. Sajavaara, M. Laitinen, T. Huhtio, M. Putkonen, V.-M. Airaksinen, H. Lipsanen. Properties of AlN grown by plasma enhanced atomic layer deposition. Applied Surface Science, 257, 17, 7827-7830, June 2011.
    DOI: 10.1016/j.apsusc.2011.04.037 View at publisher
  • [Publication 2]: M. Bosund, P. Mattila, A. Aierken, T. Hakkarainen, H. Koskenvaara, M. Sopanen, V.-M. Airaksinen, H. Lipsanen. GaAs surface passivation by plasma-enhanced atomic-layer-deposited aluminum nitride. Applied Surface Science, 256, 24, 7434-7437, October 2010.
    DOI: 10.1016/j.apsusc.2010.05.085 View at publisher
  • [Publication 3]: M. Bosund, K. Mizohata, T. Hakkarainen, M. Putkonen, M. Söderlund, S. Honkanen, H. Lipsanen. Atomic layer deposition of ytterbium oxide using β-diketonate and ozone precursors. AppliedSurfaceScience, 256, 3, 847-851, November 2009.
    DOI: 10.1016/j.apsusc.2009.08.073 View at publisher
  • [Publication 4]: M. Bosund, A. Aierken, J. Tiilikainen, T. Hakkarainen, H. Lipsanen. Passivation of GaAs surface by atomic-layer-deposited titanium nitride. Applied Surface Science, 254, 17, 5385-5389, June 2008.
    DOI: 10.1016/j.apsusc.2008.02.070 View at publisher
  • [Publication 5]: S. Vilhunen, M. Bosund, M.-L. Kääriäinen, D. Cameron, M. Sillanpää. Atomic layer deposited TiO2 films in photodegradation of aqueous salicylic acid. Separation and Purification Technology, 66, 130-134, November 2008.
    DOI: 10.1016/j.seppur.2008.11.004 View at publisher

Citation

Permanent link to this item

https://urn.fi/URN:ISBN:978-952-60-7859-5

Collections

[diss] Sähkötekniikan korkeakoulu / ELEC