Raman-spektroskopian soveltaminen siistausprosessin mittausanalytiikkaan

Simple item page
dc.contributorAalto-yliopistofi
dc.contributorAalto Universityen
dc.contributor.advisorStenius, Per 
dc.contributor.authorImmonen, Tero
dc.contributor.departmentPuunjalostustekniikan osastofi
dc.contributor.schoolTeknillinen korkeakoulufi
dc.contributor.schoolHelsinki University of Technologyen
dc.contributor.supervisorStenius, Per 
dc.date.accessioned2020-12-03T20:12:20Z
dc.date.available2020-12-03T20:12:20Z
dc.date.issued1996 
dc.format.extent62 
dc.identifier.urihttps://aaltodoc.aalto.fi/handle/123456789/84599
dc.identifier.urnURN:NBN:fi:aalto-2020120343437
dc.language.isofien
dc.programme.majorPuunjalostuksen kemiafi
dc.programme.mcodePuu-19fi
dc.rights.accesslevelclosedAccess
dc.titleRaman-spektroskopian soveltaminen siistausprosessin mittausanalytiikkaanfi
dc.type.okmG2 Pro gradu, diplomityö 
dc.type.ontasotMaster's thesisen
dc.type.ontasotPro gradu -tutkielmafi
dc.type.publicationmasterThesis 
local.aalto.digiauthask
local.aalto.digifolderAalto_34857
local.aalto.idinssi11745
local.aalto.openaccessno

Files

Collections

[dipl] Teknillinen korkeakoulu / TKK