Indiumfosfidin Stranski-Krastanow-kasvu organometallisessa kaasufaasiepitaksiassa

Loading...
Thumbnail Image

URL

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Helsinki University of Technology | Diplomityö

Date

2001

Major/Subject

Optoelektroniikka

Mcode

S-104

Degree programme

Language

fi

Pages

vi + 63

Series

Abstract

Työssä valmistettiin Teknillisen korkeakoulun Optoelektroniikan laboratoriossa MOVPE-menetelmällä InP-puolijohdekerroksia GaAs(001)-alustakiteille eri valmistusparametreilla. Nimellisesti 0,3-2,8 ML paksujen InP-kerrosten muodostumista ja morfologiaa sekä itseorganisoituneita Stranski-Krastanow-saarekkeita tutkittiin atomivoimamikroskoopilla. Saarekkeiden itseorganisoituva kasvu on lupaava menetelmä yhdistepuolijohdekvanttipisteiden valmistamiseksi optisen tietoliikenteen komponentteihin. Mittaustulokset osoittavat, että InP-kastumiskerros muodostuu atomikerroksittain 2D-saarekkeista, joiden tiheys ja koko kasvavat peiton mukana ja jotka lopulta yhdistymällä muodostavat täyden atomikerroksen. Seuraava atomikerros alkaa muodostua vasta yhtenäisen atomikerroksen päälle. 2D-saarekkeiden tiheyden havaitaan olevan suoraan verrannollinen kasvunopeuteen ja kääntäen verrannollinen lämpötilasta eksponentiaalisesti riippuvaan diffuusiovakioon. As/P-vaihdon havaitaan vaikuttavan merkittävästi InP/GaAs-rajapinnan muodostumiseen yli 610 °C:n kasvulämpötiloissa. Vaihdon takia pienellä InP-peitolla näytteiden pinnalle muodostuu useita atomikerroksia syviä koloja tai nanometrien korkuisia saarekkeita. Stranski-Krastanow-transition kriittiseksi paksuudeksi InP-kerrokselle määritettiin 2,1-2,2 ML lämpötilassa 635 °C. Saarekkeiden maksimitiheys on noin 10[9] cm[-2], joka saavutetaan yli 2,6 ML:n InP-peitolla lämpötilassa 635 °C.

Description

Supervisor

Lipsanen, Harri

Thesis advisor

Sopanen, Markku

Keywords

Stranski-Krastanow growth, Stranski-Krastanow-kasvu, indium phosphide, indiumfosfidi, epitaxy, epitaksia, 2D island, 2D-saareke, 3D island, 3D-saareke, quantum dot, kvanttipiste, AFM, MOVPE

Other note

Citation