Usage of Automatic Optical Inspection as a Supplementary Testing Method in Surface Mount Technology

No Thumbnail Available

URL

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Helsinki University of Technology | Diplomityö
Checking the digitized thesis and permission for publishing
Instructions for the author

Date

2008

Major/Subject

Piiritekniikka

Mcode

S-87

Degree programme

Language

en

Pages

66 (+21)

Series

Abstract

Tämä työ antaa peruskuvan Nokia Siemensin Espoon tehtaan käyttämästä pintaliitostekniikasta sekä perehdyttää hieman automaattisen optisen tarkastuslaitteen perusteisiin. Työn perustana on kahden eri testisarjan ajo nykyisten testereiden ja automaattisen optisen tarkastuksen läpi, sarjoista saatujen tulosten analysointi sekä testausmenetelmien vertailu. Näiden tulosten avulla päättelimme, kannattaako kyseisestä koneesta investointiesitystä. Ensimmäiseksi tarkastelen yleisesti pintaliitostekniikkaa, siinä yleisesti käytettyjä testausmenetelmiä ja näiden hyviä sekä huonoja puolia. Samalla kerron perusteita piirilevylle suuntaa antavan testauskokonaisuuden suunnittelusta. Pääpaino tässä työssä on Symbion S36 automaattisen optisen tarkastuslaitteen esittelyssä, koska evaluointi on tehty kyseisellä koneella. S36 valittiin, koska se löytää parhaiten meidän prosessissamme esiintyviä virheitä verrattuina muihin automaattisiin optisiin tarkastuslaitteisiin. Esittelen myös perusteet, kuinka käyttää testerin perusohjelmistoa. FirstPass on laitteiston levyntarkastuskäyttöliittymä, kun taas Yield Advisor on pääasiassa prosessin kontrolliin tarkoitettu ohjelmisto. Liitteissä olen liittänyt peruskäyttöohjeet näiden ohjelmien käyttöön kuten ohjeen siitä, kuinka pintaliitostekniikassa todetaan yleisimpiä virheitä.

Description

Supervisor

Halonen, Kari

Thesis advisor

Pääkkönen, Mari

Keywords

automatic optical inspection, funktionaalinen testaus, in-circuit test, boundary-scan, functional testing

Other note

Citation