Reliability estimation of a frequency converter's printed circuit board assemblies based on accelerated test method

Simple item page
dc.contributorAalto-yliopistofi
dc.contributorAalto Universityen
dc.contributor.advisorEskola, Ville 
dc.contributor.authorErixon, Peter
dc.contributor.departmentSähkötekniikan laitosfi
dc.contributor.schoolSähkötekniikan korkeakoulufi
dc.contributor.schoolSchool of Electrical Engineeringen
dc.contributor.supervisorOvaska, Seppo 
dc.date.accessioned2020-12-28T10:08:18Z
dc.date.available2020-12-28T10:08:18Z
dc.date.issued2012 
dc.description.abstractKasvaneen kilpailun seurauksena yritysten tulee pystyä tuottamaan markkinoille luotettavia tuotteita kilpailijoitaan nopeammin. Kiihdytettyjen elinikätestien tavoitteena on vastata tähän tarpeeseen. Testien tarkoituksena on saada tietoa tuotteen luotettavuudesta käyttökauden aikana ja eteenkin sen lopussa. Eliniän estimointi kiihdytetyillä testausmenetelmillä perustuu tilastollisiin menetelmiin, jossa testeillä saadusta tilastollisesta aineistosta voidaan todennäköisyyslaskentaan perustuen estimoida testattavan tuotteen elinikä. Kiihdytettyihin elinikätesteihin liittyy tilastotieteen ja todennäköisyyslaskennan lisäksi keskeisesti eri vikamekanismit, joita testeissä kiihdytetään. Vikojen tulee esiintyä kiihdytetyissä testeissä samanlaisina kuin ne mahdollisesti esiintyisivät käyttöolosuhteissakin. Tämän diplomityön tarkoituksena on estimoida erään taajuusmuuttajan piirikorttien elinikä kiihdytetyllä elinikätestillä, kun rasitteena käytetään korkeaa tasaista lämpötilaa. Työn testausjärjestelmä rakennettiin sähköisesti piirikorttien normaalikäyttöä vastaavaksi. Kiihdytetyt testit suoritettiin Arctest Oy:n valmistamassa olosuhdetestauskaapissa. Testit suoritettiin kahdessa eri lämpötilassa, joista tässä työssä esitetään aikataulusyistä ensimmäisen testin tulokset kiihdytettyyn luotettavuustestiin perustuen. Kiihdytetyn luotettavuustestin tulosten perusteella piirikorttien luotettavuus estimoidaan komponentti- ja vikamekanismikohtaisiin aktivointienergioihin perustuen. Testitulosten tulkinnassa käytetyt aktivointienergiat perustuvat standardissa IEC 61709 annettuihin energioihin. Kahden eri testirasitteen perusteella voidaan saatujen elinikäjakaumien keskimääräisten elinikäestimaattien perusteella sovittaa karakteristinen elinikäsuora rasitustason funktiona, jonka perusteella saadaan keskimääräiset eliniät muilla rasitteiden arvoilla.fi
dc.format.extent[9] + 54 s. + liitt. 5 
dc.identifier.urihttps://aaltodoc.aalto.fi/handle/123456789/99907
dc.identifier.urnURN:NBN:fi:aalto-2020122858738
dc.language.isofien
dc.programme.majorTehoelektroniikkafi
dc.programme.mcodeS-81fi
dc.rights.accesslevelclosedAccess
dc.subject.keywordlife distributionen
dc.subject.keywordtaajuusmuuttajafi
dc.subject.keywordacceleration factoren
dc.subject.keywordkiihdytetty elinikätestifi
dc.subject.keywordacclelerated life testen
dc.subject.keywordkiihdytetty luotettavuustestifi
dc.subject.keywordreliability testen
dc.subject.keywordkiihdytetty vanhentamistestifi
dc.subject.keyworddegradation testen
dc.subject.keywordelinikäjakaumafi
dc.subject.keywordfailure modelen
dc.subject.keywordkiihdytyskerroinfi
dc.subject.keywordArrbenius equationen
dc.subject.keywordvikaantumismallifi
dc.subject.keywordactivation energyen
dc.subject.keywordArrheniuksen yhtälöfi
dc.subject.keywordaktivoitumisenergiafi
dc.titleReliability estimation of a frequency converter's printed circuit board assemblies based on accelerated test methoden
dc.titleErään taajuusmuuttajan piirikorttien luotettavuuden estimointi kiihdytetyllä testausmenetelmälläfi
dc.type.okmG2 Pro gradu, diplomityö 
dc.type.ontasotMaster's thesisen
dc.type.ontasotPro gradu -tutkielmafi
dc.type.publicationmasterThesis 
local.aalto.digiauthask
local.aalto.digifolderAalto_05114
local.aalto.idinssi44491
local.aalto.inssiarchivenr689
local.aalto.inssilocationP1 Ark Aalto
local.aalto.openaccessno

Files

Collections

[dipl] Sähkötekniikan korkeakoulu / ELEC