aalto1 untyped-item.component.html
Parasitic extraction methods of PCBs, and consequent simulations with low voltage buck regulators
Loading...
URL
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Sähkötekniikan korkeakoulu |
Master's thesis
Unless otherwise stated, all rights belong to the author. You may download, display and print this publication for Your own personal use. Commercial use is prohibited.
Authors
Date
Department
Major/Subject
Mcode
ELEC3036
Degree programme
Language
en
Pages
57+4
Series
Abstract
In this thesis, research is conducted into how different analysis set-ups for parasitic extraction affects simulation results, and how accurate the simulations are in comparison to actual measurements. The device under test is a PCB designed for a buck converter. The parasitic extraction is performed on a model of the PCB, and the simulations are done with the extracted model of the PCB and a model of the buck converter. The methodology follows how the different set-ups are chosen, and how the extracted results are implemented in simulations. Also, the construction of the simulation test bench is presented, as it is done to replicate the physical PCB and buck converter as close as possible. Further, the measurements from the actual PCB and buck converter are presented as well. It is found that the different extracted models offer very little variation in simulation results. The simulation results themselves are relatively accurate to actual measurements, but ways to improve the process can be found, and are discussed.
Arbetet undersöker hur olika inställningar av parasitkapacitansanalys påverkar simulerade resultat, och hur noggranna själva simulerade resultaten är i jämförelse med mätningar. Applikationen som undersökes är ett mönsterkort för en spänningssänkande omvandlare. Kapacitansanalysen görs på en modell av mönsterkortet, varav resultaten utnyttjas i simuleringstestbänken tillsammans med en modell av omvandlaren. Metodiken följer hur inställningarna för kapacitansanalysen är valda, och hur modellen efter analysen utnyttjas i simulering-arna. Hur simulerings testbänken är uppbyggd, och används, presenteras också, eftersom den bör vara så noggrann kopia som möjligt av fysiska mönsterkortet och omvandlaren. Likaså presenteras mätningarna av fysiska mönsterkortet med omvandlaren. Det visar sig att olika modellerna av mönster kortet påverkar simuleringsresultaten mycket lite. Vidare, är simuleringsresultaten relativt noggranna jämfört med fysiska mätningarna, men det finns rum för förbättringar i processen och testbänken, vilka diskuteras.