Influence of standards IEEE-754 and IEEE-854 and floating point's precision to data mining and machine learning methods

dc.contributorAalto-yliopistofi
dc.contributorAalto Universityen
dc.contributor.advisorHollmén, Jaakko
dc.contributor.authorVenesmaa, Klaus
dc.contributor.departmentAutomaatio- ja systeemitekniikan laitosfi
dc.contributor.schoolTeknillinen korkeakoulufi
dc.contributor.schoolHelsinki University of Technologyen
dc.contributor.supervisorSimula, Olli
dc.date.accessioned2020-12-05T14:38:59Z
dc.date.available2020-12-05T14:38:59Z
dc.date.issued2009
dc.format.extent48 s. + liitt. 20 s.
dc.identifier.urihttps://aaltodoc.aalto.fi/handle/123456789/96656
dc.identifier.urnURN:NBN:fi:aalto-2020120555490
dc.language.isofien
dc.programme.majorInformaatiotekniikkafi
dc.programme.mcodeT-115fi
dc.rights.accesslevelclosedAccess
dc.subject.keywordIEEE-754en
dc.subject.keywordIEEE-754fi
dc.subject.keywordIEEE-854en
dc.subject.keywordIEEE-854fi
dc.subject.keywordfloating pointen
dc.subject.keywordliukulukufi
dc.subject.keywordbase numberen
dc.subject.keywordkantalukufi
dc.subject.keywordroundingen
dc.subject.keywordpyöristäminenfi
dc.subject.keywordposterior probabilityen
dc.subject.keywordposterioritodennäköisyysfi
dc.subject.keywordBernoulliMixen
dc.subject.keywordBernoulliMixfi
dc.subject.keywordprecisionen
dc.subject.keywordtarkkuusfi
dc.subject.keyworddecision boundaryen
dc.subject.keywordpäätösrajafi
dc.subject.keyworddecNumberen
dc.subject.keyworddecNumberfi
dc.titleInfluence of standards IEEE-754 and IEEE-854 and floating point's precision to data mining and machine learning methodsen
dc.titleStandardien IEEE-754 ja IEEE-854 sekä liukuluvun tarkkuuden vaikutus tiedon louhinnan ja koneoppimisen menetelmiinfi
dc.type.okmG2 Pro gradu, diplomityö
dc.type.ontasotMaster's thesisen
dc.type.ontasotPro gradu -tutkielmafi
dc.type.publicationmasterThesis
local.aalto.digiauthask
local.aalto.digifolderAalto_13488
local.aalto.idinssi38099
local.aalto.openaccessno
Files