GaAs-digitaalipiirien luotettavuus

Simple item page
dc.contributorAalto-yliopistofi
dc.contributorAalto Universityen
dc.contributor.advisorSoininen, Aarni 
dc.contributor.authorKonttinen, Arto
dc.contributor.departmentSähkötekniikan osastofi
dc.contributor.schoolTeknillinen korkeakoulufi
dc.contributor.schoolHelsinki University of Technologyen
dc.contributor.supervisorKuivalainen, Pekka 
dc.date.accessioned2020-12-02T19:45:15Z
dc.date.available2020-12-02T19:45:15Z
dc.date.issued1989 
dc.format.extent64 
dc.identifier.urihttps://aaltodoc.aalto.fi/handle/123456789/78998
dc.identifier.urnURN:NBN:fi:aalto-2020120237837
dc.language.isofien
dc.programme.majorElektronifysiikkafi
dc.programme.mcodeEle-69fi
dc.rights.accesslevelclosedAccess
dc.subject.keywordGaAsfi
dc.subject.keywordintegroitujen piirien luotettavuusfi
dc.subject.keywordvikamekanismitfi
dc.subject.keywordelinikätestifi
dc.titleGaAs-digitaalipiirien luotettavuusfi
dc.type.okmG2 Pro gradu, diplomityö 
dc.type.ontasotMaster's thesisen
dc.type.ontasotPro gradu -tutkielmafi
dc.type.publicationmasterThesis 
local.aalto.digiauthask
local.aalto.digifolderAalto_44791
local.aalto.idinssi5376
local.aalto.openaccessno
Files
Collections
[dipl] Teknillinen korkeakoulu / TKK