Semiconductor memories and testing methods in telecommunications
No Thumbnail Available
URL
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Helsinki University of Technology |
Diplomityö
Checking the digitized thesis and permission for publishing
Instructions for the author
Instructions for the author
Authors
Date
2007
Department
Major/Subject
Signaalinkäsittelytekniikka
Mcode
S-88
Degree programme
Language
en
Pages
84
Series
Abstract
Muistiteknologiat kehittyvät koko ajan, ja kuten muiden puolijohdetuotteiden kanssa, Mooren lain mukana pysyminen on ollut päätavoite viime vuosina. Tämän seurauksen, bittien määrä muistipiireissä kasvaa vuosi vuodelta, ja insinöörit joutuvat keksimään uusia keinoja välttääkseen ongelmat, joita syntyy viivanleveyden pienentyessä. Muistien testaus on tärkeä osa valmistusprosessia, mutta pelkkä valmistusvaiheessa tapahtuva testaus ei silti ole aina välttämättä riittävää. Valmistuksessa aiheutuneet virheet saatetaan huomata välittömästi tai jälkeenpäin, kun muistipiirit ovat joutuneet rasituksen alle. "Hard-error", eli piirissä oleva pysyvä vika, voi aiheuttaa suuria ongelmia; varsinkin jos se ilmenee vasta muistipiirin asennuksenjälkeen. Vikaantuneen muistin paikallistaminen voi olla vaikeaa, jos siihen tarkoitettuja työkaluja ei ole järjestelmässä valmiina. Sisäänrakennettu itsensä testaus (BIST) ja sisäänrakennettu itsensä korjaavuus (BISR) ovat rakenteita, joita yleensä käytetään integroitujen piirien sisäisten muistien testaamiseen ja korjaamiseen. Integroidun piirin muistin vikaantuminen voi tehdä koko piiristä hyödyttömän, jos vikaa ei voida korjata. Tässä työssä näitä rakenteita käytetään korvautuvuuden (redundanssi) lisäämiseen ulkoisille muisteille. Lukijalle selvitetään yleisimmät ja kehittyvät muistiteknologiat, muistivikatyypit, yleisimmät testausalgoritmit muistivikojen selvittämiseen ja tarvittavat työkalut ulkoisten muistien vikojen paikallistamiseen ja korjaamiseen Tellabs 8600 järjestelmässä.Description
Supervisor
Skyttä, JormaThesis advisor
Räty, EskoKeywords
memory, muistit, testing, testaus, pattern, algoritmit, fault, luotettavuus, reliability, FPGA, FPGA, BIST, BIST, BISR, BISR