Nonvolatile memory technologies and reliability

Simple item page
dc.contributorAalto-yliopistofi
dc.contributorAalto Universityen
dc.contributor.advisorTörmälehto, Kimmo 
dc.contributor.authorVaalasranta, Ilkka
dc.contributor.departmentElektroniikan, tietoliikenteen ja automaation tiedekuntafi
dc.contributor.schoolTeknillinen korkeakoulufi
dc.contributor.schoolHelsinki University of Technologyen
dc.contributor.supervisorIkonen, Erkki 
dc.date.accessioned2020-12-05T13:34:46Z
dc.date.available2020-12-05T13:34:46Z
dc.date.issued2008 
dc.description.abstractTässä diplomityössä karakterisoitiin kiihtyvyysanturikomponentin ASIC-piirille integroidun EEPROM-muistin toimintaa ja luotettavuutta. Teoriaosuudessa käytiin läpi EEPROM-muistisolun ja flash-muistien toimintaa. Lisäksi tutustuttiin luotettavuustekniikkaan puolijohdeteollisuuden näkökulmasta. Käsiteltiin myös haihtumattomille muisteille ominaisia vikamoodeja, luotettavuusongelmia sekä erilaisia keinoja parantaa haihtumattomien muistien luotettavuutta. Lisäksi käydään läpi muistien luotettavuustestausta. Mittausosuudessa karakterisoitiin vialliseksi testattujen EEPROM-muistisolujen kynnysjännitteen kehitystä käyttäen hyväksi luotettavuustestauksen menetelmiä. Mittausten tarkoituksena oli todeta testauksessa käytetyn seulomismenetelmän soveltuvuus tarkoitukseensa. Lopputuloksena menetelmän avulla voitiin parantaa merkittävästi kyseisen kiihtyvyysanturikomponenttituotteen yleistä luotettavuutta. Tähän vikaantumiseen liittyvät asiakaspalautukset vähenivät murto-osaan, kun potentiaalisesti vikaantuvat tuotteet saatiin karsittua pois populaatiosta.fi
dc.format.extentxiii + 83 
dc.identifier.urihttps://aaltodoc.aalto.fi/handle/123456789/95437
dc.identifier.urnURN:NBN:fi:aalto-2020120554271
dc.language.isofien
dc.programme.majorMittaustekniikkafi
dc.programme.mcodeS-108fi
dc.rights.accesslevelclosedAccess
dc.subject.keywordflashen
dc.subject.keywordEEPROMfi
dc.subject.keywordmemoryen
dc.subject.keywordmuistifi
dc.subject.keywordacceleration sensoren
dc.subject.keywordMEMSfi
dc.subject.keywordreliability testingen
dc.subject.keywordkiihtyvyysanturifi
dc.subject.keywordluotettavuusfi
dc.subject.keywordluotettavuustestausfi
dc.titleNonvolatile memory technologies and reliabilityen
dc.titleHaihtumattomat muistitekniikat ja miiden luotettavuusfi
dc.type.okmG2 Pro gradu, diplomityö 
dc.type.ontasotMaster's thesisen
dc.type.ontasotPro gradu -tutkielmafi
dc.type.publicationmasterThesis 
local.aalto.digiauthask
local.aalto.digifolderAalto_36889
local.aalto.idinssi35571
local.aalto.openaccessno

Files

Collections

[dipl] Teknillinen korkeakoulu / TKK