Testing and IEEE 1149.1 boundary scan

Simple item page
dc.contributorAalto-yliopistofi
dc.contributorAalto Universityen
dc.contributor.advisorLipasti, Lauri 
dc.contributor.authorWikström, Juha
dc.contributor.departmentSähkö- ja tietoliikennetekniikan osastofi
dc.contributor.schoolTeknillinen korkeakoulufi
dc.contributor.schoolHelsinki University of Technologyen
dc.contributor.supervisorHalonen, Kari 
dc.date.accessioned2020-12-04T15:43:57Z
dc.date.available2020-12-04T15:43:57Z
dc.date.issued2003 
dc.format.extent66 
dc.identifier.urihttps://aaltodoc.aalto.fi/handle/123456789/90663
dc.identifier.urnURN:NBN:fi:aalto-2020120449498
dc.language.isofien
dc.programme.majorPiiritekniikkafi
dc.programme.mcodeS-87fi
dc.rights.accesslevelclosedAccess
dc.subject.keywordIEEE 1149.1en
dc.subject.keywordIEEE 1149.1fi
dc.subject.keywordJTAGen
dc.subject.keywordJTAGfi
dc.subject.keywordtestingen
dc.subject.keywordtestausfi
dc.subject.keywordboundary scanen
dc.subject.keywordreunaluotausfi
dc.subject.keywordtest access porten
dc.subject.keywordreunapyyhkäisyfi
dc.subject.keywordTAPen
dc.subject.keywordtestiporttifi
dc.subject.keywordBISTen
dc.subject.keywordTAPfi
dc.subject.keywordBISTfi
dc.titleTesting and IEEE 1149.1 boundary scanen
dc.titleTestaus ja IEEE 1149.1 reunaluotausfi
dc.type.okmG2 Pro gradu, diplomityö 
dc.type.ontasotMaster's thesisen
dc.type.ontasotPro gradu -tutkielmafi
dc.type.publicationmasterThesis 
local.aalto.digiauthask
local.aalto.digifolderAalto_37996
local.aalto.idinssi19622
local.aalto.openaccessno

Files

Collections

[dipl] Teknillinen korkeakoulu / TKK