aalto1 untyped-item.component.html
Digitaalisten tietoliikennepiirien automaattinen testaussuunnittelu scan design -menetelmillä
Loading...
URL
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Helsinki University of Technology |
Master's thesis
Electronic archive copy is available via Aalto Thesis Database.
Checking the digitized thesis and permission for publishing
Instructions for the author
Instructions for the author
Location:
Authors
Date
Department
Major/Subject
Mcode
Tkl-38
Degree programme
Language
fi
Pages
x + 66
Series
Description
Supervisor
Rahko, KaukoThesis advisor
Komulainen, TimoKeywords
application specific integrated circuit, asiakaspiiri, ASIC, ASIC, test design, testaussuunnittelu, logic design, logiikkasuunnittelu, digital technology, digitaalitekniikka, automatic test generation, automaattinen testingenerointi, ATG, ATG, automatic test pattern generation, automaattinen testivektorien generointi, ATPG, ATPG, test vector generator, testivektorigeneraattori, ATTE, ATTE, design-for-testability, testattavuussuunnittelu, DFT, DFT, scan design, scan design, telecommunication, tietoliikennetekniikka, , , , , , , , ,