aalto1 untyped-item.component.html

Optical Properties of Multilayers

Loading...
Thumbnail Image

URL

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Helsinki University of Technology | Master's thesis
Electronic archive copy is available via Aalto Thesis Database.
Checking the digitized thesis and permission for publishing
Instructions for the author
Location:

Date

Major/Subject

Mcode

Tfy-44

Degree programme

Language

en

Pages

103

Series

Abstract

Työssä käsitellään puolijohteiden optista teoriaa. Kiteisen puolijohdemateriaalin absorptiospektriin oleellisesti vaikuttavia ilmiöitä, kuten elektroni- ja eksitoni- absorptiota sekä hilavärähtelyjä, kuvaillaan lyhyesti. Tämän jälkeen esitetään miten näytteen ulottuvuuksien rajoittaminen nanotasolle vaikuttaa materiaalin optisiin ominaisuuksiin. Erityisesti verrataan kiteisen ja amorfisen piin absorption eroja. Lisäksi selvitetään piipohjaisten nanorakenteiden optisia ominaisuuksia aikaisempiin kirjallisuudessa esiintyviin tutkimuksiin nojautuen. Amorfisesta piistä valmistettujen monikerrosrakenteiden absorptiota tutkittiin spektroskopisten läpäisy- ja heijastusmittausten avulla. Soveltamalla amorfiselle bulk-materiaalille johdettua ns. Tauc-Cody -mallia monikerrosrakenteisiin, tutkittiin kvanttirajoitusilmiön esiintymistä superhiloissa. Tuloksia verrattiin fotoluminesenssimittauksista saatuihin tietoihin. Lämmityksen vaikutusta superhila-materiaaliin selvitettiin fotoluminesenssi- ja Raman spektroskopian avulla. Työn tavoitteena oli tutkia, voidaanko amorfisesta piistä valmistettuja monikerrosrakenteita käyttää valoa emittoivina diodeina. Kiteisen piin epäsuorasta energia-aukosta johtuen piin emissiovoimakkuus on hyvin matala. Pienentämällä piinäytteen mittoja voidaan piin energiatasoja mahdollisesti muuttaa siten, että energia-aukosta tulee suora. Tällöin emissiovoimakkuus kasvaa huomattavasti, ja piistä valmistettujen nanorakenteiden soveltaminen opto-elektronisina komponentteina tulee mahdolliseksi.

Description

Supervisor

Salomaa, Martti

Thesis advisor

Sinkkonen, Juha

Other note

Citation

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By