The Automatization of Positron Measurements and Application to Defects in Heavily Doped Silicon

dc.contributorAalto-yliopistofi
dc.contributorAalto Universityen
dc.contributor.authorRanki, Ville
dc.contributor.departmentTeknillisen fysiikan ja matematiikan osastofi
dc.contributor.schoolTeknillinen korkeakoulufi
dc.contributor.schoolHelsinki University of Technologyen
dc.contributor.supervisorHautojärvi, Pekka
dc.date.accessioned2020-12-04T13:19:58Z
dc.date.available2020-12-04T13:19:58Z
dc.date.issued2000
dc.format.extent98
dc.identifier.urihttps://aaltodoc.aalto.fi/handle/123456789/88348
dc.identifier.urnURN:NBN:fi:aalto-2020120447183
dc.language.isofien
dc.programme.majorFysiikkafi
dc.programme.mcodeTfy-3fi
dc.rights.accesslevelclosedAccess
dc.subject.keywordpositronispektropiafi
dc.subject.keywordSifi
dc.subject.keywordkompensaatiofi
dc.subject.keywordvakanssivirhefi
dc.subject.keywordpositron spectroscopyfi
dc.subject.keywordcompensationfi
dc.subject.keywordvacancy defectfi
dc.titleThe Automatization of Positron Measurements and Application to Defects in Heavily Doped Siliconen
dc.titlePositronimittausten automatisointi ja soveltaminen voimakkaasti n-tyyppisen piin hilavirheisiinfi
dc.type.okmG2 Pro gradu, diplomityö
dc.type.ontasotMaster's thesisen
dc.type.ontasotPro gradu -tutkielmafi
dc.type.publicationmasterThesis
local.aalto.digiauthask
local.aalto.digifolderAalto_40575
local.aalto.idinssi15888
local.aalto.openaccessno
Files