Piihiukkasilmaisimien karakterisointi virtatransienttimenetelmällä

dc.contributorAalto-yliopistofi
dc.contributorAalto Universityen
dc.contributor.advisorHärkönen, Jaakko
dc.contributor.authorMaksimow, Maria
dc.contributor.schoolElektroniikan, tietoliikenteen ja automaation tiedekuntafi
dc.contributor.supervisorLipsanen, Harri
dc.date.accessioned2012-03-06T13:43:00Z
dc.date.available2012-03-06T13:43:00Z
dc.date.issued2009
dc.description.abstractHiukkasilmaisimet altistuvat huomattavalle säteilylle tulevaisuudessa korkean energian hiukkasfysiikkakokeissa, esimerkiksi kun CERN:n hiukkaskiihdytin LHC ajanmukaistetaan. Näin ollen pii-ilmaisimien säteilynkestävyyden parantamista eli erilaisten säteilyn aiheuttamien kidevirheiden sekä ilmaisinsovellusten muokkaamista tutkitaan laajasti. Magneettisella Czochralski-menetelmällä (MCZ) valmistetuista kiekoista prosessoituja p-tyypin ilmaisimia on kuitenkin tarkasteltu melko vähän. Tässä työssä verrattiin sekä n- että p-tyypin MCZpii-ilmaisimia sekä float zone -menetelmällä (FZ) valmistetuista kiekoista prosessoituja n-tyypin ilmaisimia suorittamalla virtatransienttimittauksia (TCT). Tulokset osoittavat, että MCZ-piin sähköiset ominaisuudet ovat huomattavasti säteilynkestävämpiä kuin FZ-piin. Tutkittujen parametrien perusteella voidaan myös päätellä, että p-tyypin MCZ-pii saattaa olla säteilynkestävämpi ilmaisinmateriaali kuin n-tyypin MCZ-pii. Tämän työn tulokset tukevat siis oletusta, että LHC-kokeiden nykyisten FZ-pii-ilmaisimien vaihtaminen n- tai p-tyypin MCZ-ilmaisimiin olisi varteenotettava vaihtoehto.fi
dc.description.abstractIn future high energy physics experiments, such as in the foreseen upgrade of the particle accelerator LHC at CERN, particle detectors will be exposed to significantly high particle radiation doses. Thus, extensive research is being conducted on improving the radiation hardness of silicon particle detectors and various defect and device engineering methods are examined. However, little data has been gathered especially from p-type magnetic Czochralski silicon (MCZ-Si) devices. This thesis presents the results of comparative transient current technique (TCT) measurements of both n-type and p-type MCZ silicon detectors as well as n-type Float Zone (FZ) silicon detectors. The results demonstrate that the MCZ silicon devices have superior radiation hard properties in comparison with the FZ silicon devices. Various examined parameters also suggest that p-type may be a more radiation hard material solution for silicon detectors than n-type MCZ silicon. Thus, replacing the currently installed FZ silicon detectors in LHC experiments with either n-type or p-type MCZ-Si devices is a viable option.en
dc.format.extent(8+) 53
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.identifier.urihttps://aaltodoc.aalto.fi/handle/123456789/3085
dc.identifier.urnURN:NBN:fi:aalto-201203071316
dc.language.isoenen
dc.locationP1fi
dc.programme.majorOptoelektroniikkafi
dc.programme.mcodeS-104
dc.publisherHelsinki University of Technologyen
dc.publisherTeknillinen korkeakoulufi
dc.rights.accesslevelopenAccess
dc.subject.keywordTCTen
dc.subject.keywordsiliconen
dc.subject.keywordradiation hardnessen
dc.subject.keywordMCZ-Sien
dc.subject.keywordparticle detectoren
dc.subject.keywordTCTfi
dc.subject.keywordpiifi
dc.subject.keywordsäteilynkestävyysfi
dc.subject.keywordMCZ-piifi
dc.subject.keywordhiukkasilmaisinfi
dc.titlePiihiukkasilmaisimien karakterisointi virtatransienttimenetelmälläfi
dc.titleTransient Current Technique (TCT) Characterization of Silicon Particle Detectorsen
dc.typeG2 Pro gradu, diplomityöfi
dc.type.dcmitypetexten
dc.type.okmG2 Pro gradu, diplomityö
dc.type.ontasotDiplomityöfi
dc.type.ontasotMaster's thesisen
dc.type.publicationmasterThesis
local.aalto.digifolderAalto_35619
local.aalto.idinssi38440
local.aalto.openaccessyes
Files
Original bundle
Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
urn100049.pdf
Size:
1.49 MB
Format:
Adobe Portable Document Format