Transient Current Technique (TCT) Characterization of Silicon Particle Detectors
No Thumbnail Available
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Elektroniikan, tietoliikenteen ja automaation tiedekunta |
Master's thesis
Unless otherwise stated, all rights belong to the author. You may download, display and print this publication for Your own personal use. Commercial use is prohibited.
Author
Date
2009
Department
Major/Subject
Optoelektroniikka
Mcode
S-104
Degree programme
Language
en
Pages
(8+) 53
Series
Abstract
Hiukkasilmaisimet altistuvat huomattavalle säteilylle tulevaisuudessa korkean energian hiukkasfysiikkakokeissa, esimerkiksi kun CERN:n hiukkaskiihdytin LHC ajanmukaistetaan. Näin ollen pii-ilmaisimien säteilynkestävyyden parantamista eli erilaisten säteilyn aiheuttamien kidevirheiden sekä ilmaisinsovellusten muokkaamista tutkitaan laajasti. Magneettisella Czochralski-menetelmällä (MCZ) valmistetuista kiekoista prosessoituja p-tyypin ilmaisimia on kuitenkin tarkasteltu melko vähän. Tässä työssä verrattiin sekä n- että p-tyypin MCZpii-ilmaisimia sekä float zone -menetelmällä (FZ) valmistetuista kiekoista prosessoituja n-tyypin ilmaisimia suorittamalla virtatransienttimittauksia (TCT). Tulokset osoittavat, että MCZ-piin sähköiset ominaisuudet ovat huomattavasti säteilynkestävämpiä kuin FZ-piin. Tutkittujen parametrien perusteella voidaan myös päätellä, että p-tyypin MCZ-pii saattaa olla säteilynkestävämpi ilmaisinmateriaali kuin n-tyypin MCZ-pii. Tämän työn tulokset tukevat siis oletusta, että LHC-kokeiden nykyisten FZ-pii-ilmaisimien vaihtaminen n- tai p-tyypin MCZ-ilmaisimiin olisi varteenotettava vaihtoehto.In future high energy physics experiments, such as in the foreseen upgrade of the particle accelerator LHC at CERN, particle detectors will be exposed to significantly high particle radiation doses. Thus, extensive research is being conducted on improving the radiation hardness of silicon particle detectors and various defect and device engineering methods are examined. However, little data has been gathered especially from p-type magnetic Czochralski silicon (MCZ-Si) devices. This thesis presents the results of comparative transient current technique (TCT) measurements of both n-type and p-type MCZ silicon detectors as well as n-type Float Zone (FZ) silicon detectors. The results demonstrate that the MCZ silicon devices have superior radiation hard properties in comparison with the FZ silicon devices. Various examined parameters also suggest that p-type may be a more radiation hard material solution for silicon detectors than n-type MCZ silicon. Thus, replacing the currently installed FZ silicon detectors in LHC experiments with either n-type or p-type MCZ-Si devices is a viable option.Description
Supervisor
Lipsanen, HarriThesis advisor
Härkönen, JaakkoKeywords
TCT, silicon, radiation hardness, MCZ-Si, particle detector, TCT, pii, säteilynkestävyys, MCZ-pii, hiukkasilmaisin