Learning Centre

Extension of the wavelenght range of spectral irradiance measurements

 |  Login

Show simple item record

dc.contributor Aalto-yliopisto fi
dc.contributor Aalto University en
dc.contributor.advisor Ojanen, Maija
dc.contributor.advisor Kärhä, Petri
dc.contributor.author Ollikka, Liisa
dc.date.accessioned 2020-12-05T10:40:16Z
dc.date.available 2020-12-05T10:40:16Z
dc.date.issued 2007
dc.identifier.uri https://aaltodoc.aalto.fi/handle/123456789/94626
dc.description.abstract Spektrinen irradianssi eli tehotiheys on yksi tärkeimmistä radiometrisistä suureista. Se kuvaa kuinka paljon säteilytehoa kohdistuu tietylle pinta-alalle tietyllä aallonpituudella. MIKES TKK Mittaustekniikalla on spektrisen irradianssin mittanormaali 290-900 nm:n aallonpituusalueelle. Mittaukset tehdään absoluuttisesti karakterisoidulla suodatinradiometrillä, johon kuuluu mallinnettu Si-loukkuilmaisin, tarkkuusapertuuri ja 13 lämpötilastabiloitua interferenssisuodatinta. Kalibrointipalvelujen asiakkaat ovat kuitenkin ilmaisseet tarpeen kalibroinneille hieman laajemmalla aallonpituusalueella. Tässä työssä laajennettiin spektrisen irradianssin mittauksen aallonpituusaluetta 250-290 nm:iin ultraviolettialueella ja 900-1500 nm:iin lähi-infrapuna-alueella. Ultraviolettialueella käytettiin GaAsP-loukkuilmaisinta ja ultraviolettisuodattimia. Lähi-infrapuna-alueella käytettiin Ge-diodi-ilmaisinta ja infrapunasuodattimia. Muuten suodatinradiometri pysyi kummassakin tapauksessa samanlaisena kuin aikaisemmin. Kaikilla kolmella suodatinradiometrillä mitattiin kolme NPL:nt(National Physical Laboratory, Iso-Britannia) kalibroimaa FEL-tyyppistä mittanormaalilamppua. Tuloksena saatiin laboratorion spektrisen irradianssin mittanormaali ensimmäistä kertaa laajennettua mittauksiin 260 nm, 980 nm, 1100 nm, 1300 nm ja 1500 nm:n aallonpituuksilla, ja spektrisen irradianssin aallonpituusalue laajennettua 250-1500 nm:n alueelle. Laajennetuksi mittausepävarmuudeksi (k=2) saatiin ultraviolettialueella 2,8 % infrapuna-alueella 3,0 %. Vertailu NPL:ään osoitti, että mittaamamme spektrinen irradianssi on ultraviolettialueella keskimäärin 2,5 % suurempi kuin NPL:llä. Lähi-infrapuna-alueella spektrinen irradianssi on enimmillään 4,9 % suurempi kuin NPL:llä, mutta näkyvän valon alueella erot ovat hyvin pienet, vain 0,5 %:n luokkaa. fi
dc.format.extent 45
dc.language.iso fi en
dc.title Extension of the wavelenght range of spectral irradiance measurements en
dc.title Spektrisen irradianssin mittauksen aallonpituusalueen laajentaminen fi
dc.contributor.school Teknillinen korkeakoulu fi
dc.contributor.school Helsinki University of Technology en
dc.contributor.department Sähkö- ja tietoliikennetekniikan osasto fi
dc.subject.keyword spectral irradiance en
dc.subject.keyword spektrinen irradianssi fi
dc.subject.keyword filter radiometer en
dc.subject.keyword suodatinradiometri fi
dc.subject.keyword trap detector en
dc.subject.keyword loukkuilmaisin fi
dc.identifier.urn URN:NBN:fi:aalto-2020120553460
dc.programme.major Mittaustekniikka fi
dc.programme.mcode S-108 fi
dc.type.ontasot Master's thesis en
dc.type.ontasot Pro gradu -tutkielma fi
dc.contributor.supervisor Ikonen, Erkki
local.aalto.openaccess no
local.aalto.digifolder Aalto_37475
dc.rights.accesslevel closedAccess
local.aalto.idinssi 34116
dc.type.publication masterThesis
dc.type.okm G2 Pro gradu, diplomityö
local.aalto.digiauth ask


Files in this item

Files Size Format View

There are no open access files associated with this item.

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

Search archive


Advanced Search

article-iconSubmit a publication

Browse