65nm CMOS varauspumppujen häviöiden tutkiminen simuloimalla

 |  Login

Show simple item record

dc.contributor Aalto-yliopisto fi
dc.contributor Aalto University en
dc.contributor.advisor Kalanti, Antti
dc.contributor.author Lenkkeri, Antti
dc.date.accessioned 2013-04-30T06:51:07Z
dc.date.available 2013-04-30T06:51:07Z
dc.date.issued 2011
dc.identifier.uri https://aaltodoc.aalto.fi/handle/123456789/9444
dc.format.extent 34 s.
dc.format.mimetype application/pdf
dc.language.iso fi en
dc.title 65nm CMOS varauspumppujen häviöiden tutkiminen simuloimalla fi
dc.type G1 Kandidaatintyö fi
dc.contributor.school Sähkötekniikan korkeakoulu fi
dc.subject.keyword 65nm fi
dc.subject.keyword CMOS fi
dc.subject.keyword häviöt fi
dc.subject.keyword simulointi fi
dc.subject.keyword varauspumppu fi
dc.identifier.urn URN:NBN:fi:aalto-201305162433
dc.type.dcmitype text en
dc.programme.major Mikro- ja nanotekniikka fi
dc.programme.mcode S3010
dc.type.ontasot Kandidaatintyö fi
dc.type.ontasot Bachelor's thesis en
dc.contributor.supervisor Turunen, Markus
dc.programme Elektroniikan ja sähkötekniikan tutkinto-ohjelma (EST) fi


Files in this item

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

Search archive


Advanced Search

article-iconSubmit a publication

Browse

My Account