Characterisation of filter radiometers with wavelength-tuneable laser source

No Thumbnail Available
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Helsinki University of Technology | Diplomityö
Checking the digitized thesis and permission for publishing
Instructions for the author
Author
Date
2002
Department
Sähkö- ja tietoliikennetekniikan osasto
Major/Subject
Mittaustekniikka
Mcode
S-108
Degree programme
Language
en
Pages
vi + 55
Series
Abstract
Suodatinradiometrien spektrinen irradianssiherkkyys karakterisoidaan perinteisesti monokromaattoreita käyttäen. Monokromaattorin kaistanleveydestä ja suodatin radiometrien paikkavasteen epätasaisuudesta johtuvat ongelmat voidaan välttää käyttämällä ns. xy-menetelmää. Tässä menetelmässä irradianssiherkkyys saadaan liikuttamalla suodatinradiometriä tasavälisesti suhteessa aallonpituudeltaan säädettävän laserin teho stabiloituun säteeseen. Mittaukset toistetaan useilla aallonpituuksilla, jotta saadaan suodatin radiometrin herkkyys koko kaistan päästöalueella. Laserin aallonpituutta monitoroidaan mittauksen aikana, mikä poistaa kokonaan aallonpituuden epävarmuuteen liittyvät ongelmat, joita esiintyy usein monokromaattorimittauksissa. Koherentilla laservalolla suodattimen pintojen välinen interferenssi voi aiheuttaa virheellisiä tuloksia mitatussa herkkyydessä. Kulmaan hiottuja suodattimia ja ilma-lasipintojen anti-heijastuspinnoitteita käytettiin vähentämään interferenssin vaikutusta. Työssä esitetään titaani-safiirilaserilla saadut suodatinradiometrin mittaustulokset aallonpituusalueella 800-900 nm. Epävarmuusanalyysi osoittaa, että käyttäen esitettyä xy-menetelmää suodatinradiometrejä pystytään karakterisoimaan 0.09 % standardiepävarmuudella. Tulokset ovat yhtäpitäviä monokromaattoripohjaisella menetelmällä mitattujen tulosten kanssa.
Description
Supervisor
Ikonen, Erkki
Thesis advisor
Manoocheri, Farshid
Keywords
spectral irradiance, spektrinen irradianssiherkkyys, spectral irradiance responsivity, suodatinradiometri, filter radiometer, radiometria, radiometry
Other note
Citation
Permanent link to this item
https://urn.fi/URN:NBN:fi:aalto-2020120448511
Collections
[dipl] Teknillinen korkeakoulu / TKK