The Automatization of Positron Measurements and Application to Defects in Heavily Doped Silicon

dc.contributor	Aalto-yliopisto	fi
dc.contributor	Aalto University	en
dc.contributor.author	Ranki, Ville
dc.date.accessioned	2020-12-04T13:19:58Z
dc.date.available	2020-12-04T13:19:58Z
dc.date.issued	2000
dc.identifier.uri	https://aaltodoc.aalto.fi/handle/123456789/88348
dc.format.extent	98
dc.language.iso	fi	en
dc.title	The Automatization of Positron Measurements and Application to Defects in Heavily Doped Silicon	en
dc.title	Positronimittausten automatisointi ja soveltaminen voimakkaasti n-tyyppisen piin hilavirheisiin	fi
dc.contributor.school	Teknillinen korkeakoulu	fi
dc.contributor.school	Helsinki University of Technology	en
dc.contributor.department	Teknillisen fysiikan ja matematiikan osasto	fi
dc.subject.keyword	positronispektropia	fi
dc.subject.keyword	Si	fi
dc.subject.keyword	kompensaatio	fi
dc.subject.keyword	vakanssivirhe	fi
dc.subject.keyword	positron spectroscopy	fi
dc.subject.keyword	compensation	fi
dc.subject.keyword	vacancy defect	fi
dc.identifier.urn	URN:NBN:fi:aalto-2020120447183
dc.programme.major	Fysiikka	fi
dc.programme.mcode	Tfy-3	fi
dc.type.ontasot	Master's thesis	en
dc.type.ontasot	Pro gradu -tutkielma	fi
dc.contributor.supervisor	Hautojärvi, Pekka
local.aalto.openaccess	no
local.aalto.digifolder	Aalto_40575
dc.rights.accesslevel	closedAccess
local.aalto.idinssi	15888
dc.type.publication	masterThesis
dc.type.okm	G2 Pro gradu, diplomityö
local.aalto.digiauth	ask