Prosessianalytiikka nyt ja tulevaisuudessa - mikrosysteemit ja näytteenottomenetelmät

 |  Login

Show simple item record

dc.contributor Aalto-yliopisto fi
dc.contributor Aalto University en
dc.contributor.advisor Suomi, Johanna
dc.contributor.author Rajamäki, Outi
dc.date.accessioned 2013-02-20T12:32:35Z
dc.date.available 2013-02-20T12:32:35Z
dc.date.issued 2010
dc.identifier.uri https://aaltodoc.aalto.fi/handle/123456789/8509
dc.format.extent 25 s.
dc.format.mimetype application/pdf
dc.language.iso fi en
dc.title Prosessianalytiikka nyt ja tulevaisuudessa - mikrosysteemit ja näytteenottomenetelmät fi
dc.type G1 Kandidaatintyö fi
dc.contributor.school Kemian ja materiaalitieteiden tiedekunta fi
dc.subject.keyword prosessianalytiikka fi
dc.subject.keyword mikroanalytiikka fi
dc.subject.keyword NeSSI fi
dc.subject.keyword mikrosysteemit fi
dc.identifier.urn URN:NBN:fi:aalto-201305164373
dc.type.dcmitype text en
dc.programme.major Kemia fi
dc.programme.mcode KE3001
dc.type.ontasot Kandidaatintyö fi
dc.type.ontasot Bachelor's thesis en
dc.contributor.supervisor Linnekoski, Juha
dc.programme Kemian tekniikan tutkinto-ohjelma (KEM) fi


Files in this item

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

Search archive


Advanced Search

article-iconSubmit a publication

Browse

My Account