Learning Centre

Radioaaltojen käyttö levymäisten aineiden ominaisuuksien mittaamiseen prosessiteollisuudessa

 |  Login

Show simple item record

dc.contributor Aalto-yliopisto fi
dc.contributor Aalto University en
dc.contributor.author Olin, Seppo
dc.date.accessioned 2020-12-02T14:09:37Z
dc.date.available 2020-12-02T14:09:37Z
dc.date.issued 1982
dc.identifier.uri https://aaltodoc.aalto.fi/handle/123456789/73663
dc.format.extent 62
dc.language.iso fi en
dc.title Radioaaltojen käyttö levymäisten aineiden ominaisuuksien mittaamiseen prosessiteollisuudessa fi
dc.contributor.school Teknillinen korkeakoulu fi
dc.contributor.school Helsinki University of Technology en
dc.contributor.department Sähkötekniikan osasto fi
dc.subject.keyword dielektrisyysvakion mittaaminen fi
dc.subject.keyword radioaaltojen teollisuussovellutukset fi
dc.identifier.urn URN:NBN:fi:aalto-2020120232502
dc.programme.major Radiotekniikka fi
dc.programme.mcode 01.26 fi
dc.type.ontasot Master's thesis en
dc.type.ontasot Pro gradu -tutkielma fi
dc.contributor.supervisor Tiuri, Martti
local.aalto.openaccess no
local.aalto.digifolder Aalto_37478
dc.rights.accesslevel closedAccess
local.aalto.idinssi 492
dc.type.publication masterThesis
dc.type.okm G2 Pro gradu, diplomityö
local.aalto.digiauth ask

Files in this item

Files Size Format View

There are no open access files associated with this item.

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

Search archive

Advanced Search

article-iconSubmit a publication