Characterization of Light Emitting Diodes and Photometer Quality Factors

 |  Login

Show simple item record

dc.contributor Aalto-yliopisto fi
dc.contributor Aalto University en
dc.contributor.advisor Kärhä, Petri, Doc., Aalto University, Finland
dc.contributor.author Poikonen, Tuomas
dc.date.accessioned 2013-01-07T09:30:15Z
dc.date.available 2013-01-07T09:30:15Z
dc.date.issued 2012
dc.identifier.isbn 978-952-60-4902-1 (electronic)
dc.identifier.isbn 978-952-60-4901-4 (printed)
dc.identifier.issn 1799-4942 (electronic)
dc.identifier.issn 1799-4934 (printed)
dc.identifier.issn 1799-4934 (ISSN-L)
dc.identifier.uri https://aaltodoc.aalto.fi/handle/123456789/7296
dc.description.abstract Light-emitting diodes (LEDs) are used in various applications due to their small size, durability and energy efficiency. The introduction of white high-brightness LEDs has changed the lighting, electronics and automobile industries for good. Incandescent lamps are being replaced by solid-state lamps (SSLs) for better energy efficiency. However, the optical and electrical properties of LEDs and SSLs differ from incandescent lamps, and characterization of these new light sources requires careful evaluation of the measurement methods for obtaining low measurement uncertainty. In this thesis, measurement setups have been developed for luminous flux and luminous efficacy measurements of LEDs and SSLs. The photometer heads utilized in the measurements have been characterized for the spectral and directional responses. Methods for analyzing the uncertainties of the photometer spectral and directional quality indices f1’ and f2 have been developed using Monte Carlo simulation. A multifunctional 30-cm integrating sphere has been constructed with custom ports and baffles for total and partial luminous flux measurements of both low- and high-power LEDs. The spatial corrections obtained are less than 0.2 % for typical directional LEDs. The expanded uncertainty (k = 2) of the measurement setup varies between 1.2 % and 4.6 %, depending on the color and the angular spread of the LED. For luminous efficacy measurements of SSLs, a measurement setup based on a compact goniospectrometer and a 1.65-m integrating sphere has been constructed. Test measurements of 25 different SSLs showed large differences between the lamps, especially in the luminous efficacies and the quality of the built-in power supplies. It was also found that the self-absorptions of SSLs have spectral dependence due to the materials used in the lamps. The luminous efficacy of a typical SSL with stable electronics can be measured with 1.2 % (k = 2) expanded uncertainty. The uncertainties of the spectral and directional quality indices f1’ and f2 of photometers have been investigated using Monte Carlo simulation with biased and random error models. The results show that simple random variation of the individual data points of the response data may lead to underestimated uncertainty of the quality index. For proper estimation of the uncertainties, physical models of the characterization measurements are needed. The developed methods give, for the first time, a solid basis for the uncertainty analysis of the photometer quality indices, which manufacturers typically report without uncertainties. en
dc.description.abstract Loistediodeja (LEDejä) käytetään useissa sovelluksissa niiden pienen koon, kestävyyden ja hyvän energiatehokkuuden vuoksi. Valkoisten kirkkaiden LEDien tultua saataville valaistus-, elektroniikka- ja autoteollisuus ovat kokeneet suuren muutoksen. Yleiskäytössä olevat hehkulamput tullaan syrjäyttämään uusilla LED-pohjaisilla ratkaisuilla. LEDien ja LED-pohjaisten energiansäästölamppujen optiset ja sähköiset ominaisuudet poikkeavat hehkulamppujen ominaisuuksista kuitenkin merkittävästi. Pienten mittausepävarmuuksien saavuttamiseksi LEDeihin liittyvät fotometriset mittausmenetelmät tulee arvioida huolellisesti. Tässä työssä on kehitetty mittauslaitteistot LEDien ja LED-pohjaisten energiansäästölamppujen valovirran ja valotehokkuuden mittaamista varten. Mittauksissa käytettävien fotometrien spektristen herkkyyksien ja kosinivasteiden karakterisointien pohjalta on lisäksi kehitetty menetelmät fotometrien hyvyyslukujen f1’ ja f2 epävarmuuksien analysointia varten käyttäen Monte Carlo-simulaatiota. Työssä on kehitetty pien- ja suurteho-LEDien valovirran mittaamiseen monikäyttöinen mittauslaitteisto, joka perustuu 30-cm erikoisrakenteiseen integroivaan palloon. Laitteistolla saavutettavat spatiaalikorjaukset ovat suuruudeltaan alle 0.2 % mitattaessa tyypillisiä suuntaavia LEDejä. Riippuen tutkittavan LEDin väristä ja valokeilan leveydestä, mitatun valovirran laajennettu epävarmuus (k = 2) on 1,2 – 4,6 %. LED-pohjaisten energiansäästö- lamppujen valotehokkuusmittauksia varten on kehitetty mittauslaitteisto, joka perustuu kompaktiin goniospektrometriin ja 1.65-m integroivaan palloon. Tutkimuksessa käytettyjen kaupoissa myytävien LED-lamppujen mittaustuloksissa havaittiin huomattavia eroja valotehokkuuksissa ja sisäänrakennettujen teholähteiden laadussa. Tulokset osoittavat myös, että LED-lampuissa käytettävät materiaalit aiheuttavat lamppujen itseabsorptioihin spektristä riipppuvuutta. Mittalaitteistolla voidaan mitata stabiilin LED-pohjaisen energiansäästö- lampun valotehokkuus 1.2 % (k = 2) laajennetulla epävarmuudella. Fotometrien spektrisen herkkyyden ja kosinivasteen sovituksen laatua kuvaavien hyvyyslukujen f1’ ja f2 epävarmuuksia on tutkittu Monte Carlo-simulaatiolla. Tutkimuksessa vertailtiin satunnaisten ja biasoitujen virhemallien soveltuvuutta epävarmuuden simulointiin. Tulosten perusteella mittapisteiden satunnainen poikkeutus tuottaa aliarvioidun epävarmuuden hyvyysluvuille. Hyvyyslukujen todellisten epävarmuuksien simulointi vaatii mittauksiin pohjautuvien virhemallien käyttöä. Fotometrien valmistajat ovat perinteisesti ilmoittaneet hyvyysluvut ilman epävarmuuksia. Tutkimuksessa kehitetyt menetelmät antavat ensimmäistä kertaa vahvan pohjan fotometrien hyvyyslukujen epävarmuuden analysoinnille. fi
dc.format.extent 55 + app. 47
dc.format.mimetype application/pdf
dc.language.iso en en
dc.publisher Aalto University en
dc.publisher Aalto-yliopisto fi
dc.relation.ispartofseries Aalto University publication series DOCTORAL DISSERTATIONS en
dc.relation.ispartofseries 165/2012
dc.relation.haspart [Publication 1]: T. Poikonen, P. Manninen, P. Kärhä, and E. Ikonen, “Multifunctional Integrating Sphere Setup for Luminous Flux Measurements of Light Emitting Diodes,” Rev. Sci. Instrum. 81, 023102 (2010).
dc.relation.haspart [Publication 2]: T. Poikonen, T. Pulli, A. Vaskuri, H. Baumgartner, P. Kärhä, and E. Ikonen, “Luminous Efficacy Measurement of Solid-State Lamps,” Metrologia 49, S135–S140 (2012).
dc.relation.haspart [Publication 3]: T. Poikonen, P. Kärhä, P. Manninen, F. Manoocheri, and E. Ikonen, “Uncertainty Analysis of Photometer Quality Factor f1’,” Metrologia 46, 75–80 (2009).
dc.relation.haspart [Publication 4]: T. Poikonen, P. Blattner, P. Kärhä, and E. Ikonen, “Uncertainty Analysis of Photometer Directional Response Index fi using Monte Carlo Simulation,” Metrologia 49, 727–736 (2012).
dc.subject.other Electrical engineering en
dc.title Characterization of Light Emitting Diodes and Photometer Quality Factors en
dc.title Loistediodien ja fotometrien hyvyyslukujen karakterisoinnit fi
dc.type G5 Artikkeliväitöskirja fi
dc.contributor.school Sähkötekniikan korkeakoulu fi
dc.contributor.school School of Electrical Engineering en
dc.contributor.department Signaalinkäsittelyn ja akustiikan laitos fi
dc.contributor.department Department of Signal Processing and Acoustics en
dc.subject.keyword photometry en
dc.subject.keyword integrating sphere en
dc.subject.keyword goniometer en
dc.subject.keyword photometer en
dc.subject.keyword light-emitting diode en
dc.subject.keyword solid-state lighting en
dc.subject.keyword luminous flux en
dc.subject.keyword electrical power en
dc.subject.keyword luminous efficacy en
dc.subject.keyword spectral responsivity en
dc.subject.keyword directional response en
dc.subject.keyword quality index en
dc.subject.keyword fotometria fi
dc.subject.keyword integroiva pallo fi
dc.subject.keyword goniometri fi
dc.subject.keyword fotometri fi
dc.subject.keyword loistediodi fi
dc.subject.keyword valovirta fi
dc.subject.keyword sähköteho fi
dc.subject.keyword valotehokkuus fi
dc.subject.keyword spektrinen herkkyys fi
dc.subject.keyword kosinivaste fi
dc.subject.keyword hyvyysluku fi
dc.identifier.urn URN:ISBN:978-952-60-4902-1
dc.type.dcmitype text en
dc.type.ontasot Doctoral dissertation (article-based) en
dc.type.ontasot Väitöskirja (artikkeli) fi
dc.contributor.supervisor Ikonen, Erkki, Prof., Aalto University, Finland
dc.opn Sperling, Armin, Dr., Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Germany
dc.contributor.lab Metrology Research Institute en
dc.rev Clare, John, Dr., Measurement Standards Laboratory, New Zealand
dc.rev Gran, Jarle, Dr., Justervesenet, Norway
dc.date.defence 2012-12-07


Files in this item

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

Search archive


Advanced Search

article-iconSubmit a publication

Browse

My Account