Title: | Characterization of Light Emitting Diodes and Photometer Quality Factors Loistediodien ja fotometrien hyvyyslukujen karakterisoinnit |
Author(s): | Poikonen, Tuomas |
Date: | 2012 |
Language: | en |
Pages: | 55 + app. 47 |
Department: | Signaalinkäsittelyn ja akustiikan laitos Department of Signal Processing and Acoustics |
ISBN: | 978-952-60-4902-1 (electronic) 978-952-60-4901-4 (printed) |
Series: | Aalto University publication series DOCTORAL DISSERTATIONS, 165/2012 |
ISSN: | 1799-4942 (electronic) 1799-4934 (printed) 1799-4934 (ISSN-L) |
Supervising professor(s): | Ikonen, Erkki, Prof., Aalto University, Finland |
Thesis advisor(s): | Kärhä, Petri, Doc., Aalto University, Finland |
Subject: | Electrical engineering |
Keywords: | photometry, integrating sphere, goniometer, photometer, light-emitting diode, solid-state lighting, luminous flux, electrical power, luminous efficacy, spectral responsivity, directional response, quality index, fotometria, integroiva pallo, goniometri, fotometri, loistediodi, valovirta, sähköteho, valotehokkuus, spektrinen herkkyys, kosinivaste, hyvyysluku |
OEVS yes | |
|
|
Abstract:Loistediodeja (LEDejä) käytetään useissa sovelluksissa niiden pienen koon, kestävyyden ja hyvän energiatehokkuuden vuoksi. Valkoisten kirkkaiden LEDien tultua saataville valaistus-, elektroniikka- ja autoteollisuus ovat kokeneet suuren muutoksen. Yleiskäytössä olevat hehkulamput tullaan syrjäyttämään uusilla LED-pohjaisilla ratkaisuilla. LEDien ja LED-pohjaisten energiansäästölamppujen optiset ja sähköiset ominaisuudet poikkeavat hehkulamppujen ominaisuuksista kuitenkin merkittävästi. Pienten mittausepävarmuuksien saavuttamiseksi LEDeihin liittyvät fotometriset mittausmenetelmät tulee arvioida huolellisesti. Tässä työssä on kehitetty mittauslaitteistot LEDien ja LED-pohjaisten energiansäästölamppujen valovirran ja valotehokkuuden mittaamista varten. Mittauksissa käytettävien fotometrien spektristen herkkyyksien ja kosinivasteiden karakterisointien pohjalta on lisäksi kehitetty menetelmät fotometrien hyvyyslukujen f1’ ja f2 epävarmuuksien analysointia varten käyttäen Monte Carlo-simulaatiota. |
|
Parts:[Publication 1]: T. Poikonen, P. Manninen, P. Kärhä, and E. Ikonen, “Multifunctional Integrating Sphere Setup for Luminous Flux Measurements of Light Emitting Diodes,” Rev. Sci. Instrum. 81, 023102 (2010).[Publication 2]: T. Poikonen, T. Pulli, A. Vaskuri, H. Baumgartner, P. Kärhä, and E. Ikonen, “Luminous Efficacy Measurement of Solid-State Lamps,” Metrologia 49, S135–S140 (2012).[Publication 3]: T. Poikonen, P. Kärhä, P. Manninen, F. Manoocheri, and E. Ikonen, “Uncertainty Analysis of Photometer Quality Factor f1’,” Metrologia 46, 75–80 (2009).[Publication 4]: T. Poikonen, P. Blattner, P. Kärhä, and E. Ikonen, “Uncertainty Analysis of Photometer Directional Response Index fi using Monte Carlo Simulation,” Metrologia 49, 727–736 (2012). |
|
|
Unless otherwise stated, all rights belong to the author. You may download, display and print this publication for Your own personal use. Commercial use is prohibited.
Page content by: Aalto University Learning Centre | Privacy policy of the service | About this site