Improving the Utilization of Statistical Failure Models in Component Level Testing

dc.contributor	Aalto-yliopisto	fi
dc.contributor	Aalto University	en
dc.contributor.advisor	Kärkäs, Reijo
dc.contributor.author	Seppälä, Veera
dc.date.accessioned	2016-06-17T12:23:29Z
dc.date.available	2016-06-17T12:23:29Z
dc.date.issued	2016-06-13
dc.identifier.uri	https://aaltodoc.aalto.fi/handle/123456789/20837
dc.format.extent	72+9
dc.language.iso	en	en
dc.title	Improving the Utilization of Statistical Failure Models in Component Level Testing	en
dc.title	Tilastollisten vikamallien käytön kehittäminen komponenttien testauksessa	fi
dc.type	G2 Pro gradu, diplomityö	fi
dc.contributor.school	Sähkötekniikan korkeakoulu	fi
dc.subject.keyword	PAT	en
dc.subject.keyword	MEMS	en
dc.subject.keyword	statistical screening	en
dc.subject.keyword	testing	en
dc.identifier.urn	URN:NBN:fi:aalto-201606172445
dc.programme.major	Elektroniikka ja sovellukset	fi
dc.programme.mcode	S3007	fi
dc.type.ontasot	Master's thesis	en
dc.type.ontasot	Diplomityö	fi
dc.contributor.supervisor	Paulasto-Kröckel, Mervi
dc.programme	EST - Elektroniikka ja sähkötekniikka (TS2005)	fi
dc.location	P1	fi
local.aalto.openaccess	no
dc.rights.accesslevel	closedAccess
local.aalto.idinssi	53877
dc.type.publication	masterThesis
dc.type.okm	G2 Pro gradu, diplomityö