Fourier-muunnosinfrapunaspektrometrin ilmaisimen ominaisuuksien mittausmenetelmä sekä sen soveltaminen

dc.contributor	Aalto-yliopisto	fi
dc.contributor	Aalto University	en
dc.contributor.advisor	Stenman, Folke
dc.contributor.author	Lehtomäki, Esko
dc.date.accessioned	2014-01-09T13:11:52Z
dc.date.available	2014-01-09T13:11:52Z
dc.date.issued	2013-09-23
dc.identifier.uri	https://aaltodoc.aalto.fi/handle/123456789/11993
dc.format.extent	43+8
dc.language.iso	fi	en
dc.title	Fourier-muunnosinfrapunaspektrometrin ilmaisimen ominaisuuksien mittausmenetelmä sekä sen soveltaminen	fi
dc.title	Measuring System for Properties of Detectors in Fourier Transform Infrared Spectrometer	en
dc.type	G2 Pro gradu, diplomityö	en
dc.contributor.school	Sähkötekniikan korkeakoulu	fi
dc.subject.keyword	FTIR	fi
dc.subject.keyword	infrapunaspektroskopia	fi
dc.subject.keyword	spektrikorjattu ilmaisin	fi
dc.subject.keyword	MCT-ilmaisin	fi
dc.identifier.urn	URN:NBN:fi:aalto-201401101069
dc.programme.major	Elektroniikka ja sovellukset	fi
dc.programme.mcode	S3007	fi
dc.type.ontasot	Master's thesis	en
dc.type.ontasot	Diplomityö	fi
dc.contributor.supervisor	Ikonen, Erkki
dc.programme	EST - Elektroniikka ja sähkötekniikka	fi