Sulfidiohutkalvojen valmistus atomikerrosepitaksialla ja niiden karakterisointi korkean lämpötilan röntgendiffraktiolla



Title:	Sulfidiohutkalvojen valmistus atomikerrosepitaksialla ja niiden karakterisointi korkean lämpötilan röntgendiffraktiolla The atomic layer epitaxy growth of sulfide thin films and their characterisation by high temperature X-ray diffraction
Author(s):	Rautanen, Janne
Date:	1996
Language:	fi
Pages:	77 s. + liitt.
Department:	Prosessi- ja materiaalitekniikan osasto
Major/Subject:	Epäorgaaninen kemia
Supervising professor(s):	Niinistö, Lauri
	OEVS yes
» Show full item record
Permanent link to this item: http://urn.fi/URN:NBN:fi:aalto-202104144846 Email this Export to RefWorks QR Code Print BibTex Tweet